納優(yōu)系列儀器合國際電工委員會IEC62321標準及中國標準所規(guī)定的技術(shù)要求和技術(shù)規(guī)范。

納優(yōu)E-650型銅材分析儀主要特點

•   自選式功能組合
    用戶根據(jù)自己的控制要求，可自主選擇多元素測試軟件或膜厚測試軟件（二選一）
•   全自動配置
    全自動化的操作模式、人性化的操作界面，測試人員通過鼠標即可完成操作(原級濾光片、準直器、樣品的移動和樣品蓋的開關(guān)、工作曲線的選擇實現(xiàn)自動化控制，程序會根據(jù)預先設(shè)定的測試條件自動進行的切換動作)；

•   照射區(qū)控制系統(tǒng)
    可調(diào)整的X光照射區(qū)域控制系統(tǒng)，實現(xiàn)了對測試區(qū)域的準確把握。測試數(shù)據(jù)與實際檢測區(qū)域的對應。

•   成熟、經(jīng)典的分析方法：
    憑借“七·五”“九·五”科技攻關(guān)計劃之科技成果，集成近二十五年分析測試應用經(jīng)驗的經(jīng)典數(shù)學分析模型，為測試者提供、精準、穩(wěn)定的分析結(jié)果。

•   強大的軟件功能
    1、分析軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀、大小的不同自動設(shè)定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能，大幅測量；

    2、提供開放式工作曲線標定技術(shù)平臺,可為每家用戶量身定做的有害物質(zhì)檢測和控制方案；

    3、融合了一系列的光譜處理方法，包括FFT（快速傅立葉變換濾波）、精準的背景扣除方法、微商自動尋峰和Quasi-Newton(準牛頓)優(yōu)化算法等；

    4、國際的XRF分析軟件，融合了包括經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）、理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法，測試數(shù)據(jù)的準確性。

•   開放性工作曲線
    用戶可很方便的根據(jù)自身材質(zhì)狀況，針對性的建立風險材料的工作曲線，工作曲線與被測材料的對應性。從而大幅度風險物質(zhì)的檢測，來料允收判定依據(jù)的性。

•   嚴謹?shù)挠布膳c結(jié)構(gòu)設(shè)計
    對可能影響整機度及穩(wěn)定性的器件，采用高端原廠器件。

    模塊化設(shè)計與組件選擇，了整機性能的穩(wěn)定性與未來服務的操作簡便性。

    設(shè)計的原級、二次濾光系統(tǒng)，既了對有害元素的激發(fā)效率，同時降低了作為干擾因素的背景強度，充分峰背比，大幅度降低檢出下限。

•   全光路射線護系統(tǒng)
    X光管、探測器、復合濾光處理系統(tǒng)、CCD、定位系統(tǒng)、全自動準直器切換系統(tǒng)等光路處理器件均集成在密閉結(jié)構(gòu)中。光路系統(tǒng)的穩(wěn)定性與密閉性，充分了測試。

    合理的8種復合濾光片組合和自動切換系統(tǒng)，既可以降低來自原級X射線干擾的影響，被測元素的靈敏度和測試，同時還具有輻射自動護功能，保護操作者。

    散熱系統(tǒng)，大幅度提供儀器的性。全光路射線護設(shè)計，又避免了無射線區(qū)域的無謂屏蔽與保護，進一步了散熱效率。了儀器的環(huán)境適應性與穩(wěn)定性。

    全光路輻射護配合經(jīng)典的迷宮式輻射護設(shè)計，同時采用軟、硬件雙重連鎖，操作人員人身。

納優(yōu)E-650型銅材分析儀產(chǎn)品配置( product configure)

高分辨率電制冷半導體探測器(high-resolution electric refrigeration semiconductor detector)

鹵素測試配件(halogen test accessory)

光路優(yōu)化系統(tǒng)(optical optimization system )

內(nèi)置高清晰CCD攝像頭(high-resolution CCD camera)

自動切換準直器和濾光片collimators and filters automatic switching system

全自動定位測試系統(tǒng)(automatic positioning test system)

樣品倉自動開關(guān)裝置(fully automatic sample cavity)

三重保護模式（triple security protected mode）