| 類型 | 鍍層測厚儀 | 品牌 | 中科院 |
| 型號 | HM-DT-A | 測量范圍 | 0-0.000001(mm) |
| 顯示方式 | 數示 | 電源電壓 | 220(V) |
| 外形尺寸 | 450*330*120(mm) |
特點: 1、全自動數顯顯示,測量速度快,高,可達0.01um 2、可測量單金屬鍍層、合金鍍層、復合鍍層等,選購連電腦裝置可測多層鎳,邁金等微薄鍍層 3、可測量中、高電位裝飾鉻、鋅,可測量低電位鍍錫層 4、選購1mm探頭可測量微小試樣之厚度 5、選購移動測試架可測量針狀、棒狀等試樣。 規格: 1、測量范圍和:0.01(0.0025)um-50(100)um,≤&plun;10% 合國標標準ISO2177-85 2、測量品種: 銅、鎳、鉻、鋅、錫、銀、鎘、銦、金 Kind: Cu,Ni,Cr,Zn,Sn,Ag,Ge,In,Au A、單金屬鍍層;B、合金鍍層;C、復合鍍層;D、多層鎳鍍層; E、化學鍍鎳;F、線材上鍍層 3、輸出方式:厚度四位數字顯示(其中兩位小數) 3、電源:AC220V&plun;10% 50Hz 4、儀器功耗:≥30VA 5、檢測平面積:Ф1.4mm或Ф1.0mm(選購品)以上 6、本機型之打印機可選購








