| 品牌 | APPLENT | 型號 | AT817 |
| 測量范圍 | L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad) | 測量準確度 | 0.05（%） |
| 測量頻率 | 50Hz~100k（Hz） | 測量速度 | 1.5次/秒，5次/秒，15次/秒 |
AT817 采用處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測試儀器。大規模的貼片技術的運用，使得AT817需微型機箱即可容納。依賴于安柏科技精湛的技術，使其性能亦。
內建50Hz~100kHz 10點測試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測試電平，使其能滿足多數生產現場的使用。
使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統，使AT817具有傻瓜式操作界面。
內置RS232C接口，兼容SCPI編程語言，很容易與計算機通訊，完成儀器功能。
內置Handler接口，配合RS232C接口完成復雜的自動控制系統。
技術規格
● 測試參數：L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad)
● 測試頻率：50Hz~100kHz
● 基本準確度：0.05%
● 測試電平：0.1V, 0.3V, 1.0V
● 測試速度：1.5次/秒，5次/秒，15次/秒
● 主副參數5位顯示
● L: 0.01μH-99999H
● C: 0.01pF - 99999μF
● R,Z: 0.0001Ω - 99.999MΩ?
● D,Q: 0.00001 - 999999
● θ(deg): -90.000°- 90.000°?
● θ(rad): -3.1416 – 3.1416
● Δ%: -99999% - 99999%
● 輸出阻：30Ω, 50Ω 100Ω
● 等效電路：串聯, 并聯
● 9量程自動或手動測試。
性能特征
● 高亮度，清晰四色VFD顯示。
● 校正功能：全量程程開路和短路掃頻清。
● 第三窗口可同時顯示 Z, D, Q, θ, ΔABS, Δ%或分選結果。
● 比較器（分選）功能：內建20組分選記錄，P1,P2,P3,NG,AUX 五檔分選結果顯示和輸出。
● 自定義分選結果訊響和音量。
● 內置RS232C接口和Handler接口。
● 顯示亮度可調。
● 1000V強沖擊保護
