測量原理
高頻率的微波脈沖沿著一根纜、棒或包含一根棒的同軸套管運行，接觸到被測介質后，微波脈沖被反射回來，并被儀表的電子部件接收，且分析計算其運行時間。微處理器識別物位回波，分析計算后將它轉換成物位信號給出。由于其測量原理簡單，VEGAFLEX可以不帶料調整，從而節省了大量的調試費用。測量纜和棒可以截短，使之更加適應現場的應用。

對于蒸汽不敏感

即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量也不受影響。
 
不受介質特性變化的影響
　被測介質的密度變化或介電常數的變化不會影響測量。

不受被測介質粘附影響
　在測量探頭或容器壁上粘附介質不會影響測量結果。

容器內安裝物

  如果采用同軸套管式的VEGAFLEX，測量不受容器內安裝物的影響，比如：加熱管或支撐物等，且不需要調試。

VEGAFLEX的不同應用

由于VEGAFLEX導波雷達物位計提供了不同形式的微波導向傳播途徑，測量的量程及介質受其影響，按其提供的形式分以下幾種：

形式      測量介質                    量程

纜式      用于測量液體或固體介質      ≤60m

桿式      用于測量液體或固體介質      ≤6m

同軸套管  用于測量低黏度的液體介質    ≤6m

界面的測量

VEGAFLEX67專門用于測量液體介質的界面。為了這個的應用，不但從機械結構上，而且從電子部件上都進行了優化。

界面測量的前提條件

上層介質(L2)：

1.       可以為不導電介質；

2.       須知道L2的介電常數（為了使其測量準確，調試時需要輸入）。小介電常數：棒式1.7，同軸管式1.4；

3.       L2須穩定，且介質不能更換，混合比列不能改變；

4.       上層介質須是同質的，內部沒有分層；

5.       上層介質的厚度至少100mm；

6.       上層介質和下層介質分層要明顯，沒有乳化狀，沒有腐化層；

7.       上層介質盡量不要有泡沫。

下層介質（L1）：

1.       L1介電常數比L2介電常數至少大10，是導電的。

界面測量的輸出信號

界面可以通過傳感器直接進行分析處理。模擬量輸出（4…20mA）將界面的高度（h1）轉換成百分數。這個數值也正是要被調整的數值。儀表在供貨時已經設定好傳感器長度和上部的區（0%/100%）。PLICSCOM顯示調整模塊和調試軟件PAware顯示出界面的距離和到上一層介質表面的距離。HART協議可以傳輸到界面的距離和到上一層介質表面的距離。這些數據可以通過信號處理儀表VEGAMET625或任何基于HART通訊的分析處理系統進行分析處理，不如：接口模塊。VEGAMET625還可以計算兩個數值的差值。差值即為上層介質的厚度。

主要性能參數