回收Agilent4287A 1 33 3260 7146,冉 R
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Agilent4287A 射頻測試儀
Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz~3GHz頻率范圍可以提供,和快速測量,以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率。與反向測量技術不同,采用直流電壓測量技術能在大的阻范圍進行測量。
生產率高,質量
4287A適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量快。此外,在小測試電流(100μA)優良的測試重復性還可以顯著生產率,因為所需的取平均過程短。
系統組建簡單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件點測件接點附近,而不會使誤差有任何。內置比較器功能,GPIB處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內置統計分析功能可以提供測試質量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統一進行生產監控。此外,若干APC-7 SMD測量夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7適配器聯用,從而無需制作夾具。
技術指標
(的技術指標參見數據資料表)
測量參數:|Z|,|Y|,θ-z(度/弧度)θ-y(度/弧度),G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D(可同時顯示4種測量參數)。
測試頻率:1MHz~3GHz
頻率分辨力:100KHz
測試信號:V:4.47mV~502mV(f≤1GHz); 4.47mV~447mv(f>1GHz)
I:0.0894mA~10mA(f≤1GHz);0.0894mA~8.94mA(f>1GHz)
電平功能:電壓,電流
基本的Z:±1.0%
測量范圍:200mΩ~3kΩ(1MHz下,≤10%)
測量時間:每點9ms(速)
Rdc測量:可用于觸點檢查
校準:開路/短路/負載/低損耗電容量
補償:開路/短路,電長度
大容量存儲功能:30固態大容量存儲或2GB硬盤(選擇選件)
接口:GPIB,:LAN(10Base-T/100Base-Tx自動選擇),處理器接口
顯示:8.4英寸彩色LCD顯示器
一般指標
電源要求:90V~132V,或198V~264V,47Hz~63Hz,350VAmax
工作溫度/濕度:5℃~40℃,相對濕度20%~80%
尺寸:234mm高×425寬×445mm深(主機)
重量:16kg/0.3kg(典型值)(主機/測試頭)
服務:
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