| 類型 | 偏光顯微鏡 | 型號 | XP-K |
產品說明
偏光顯微鏡主要用來鑒別各向同性物質和各向異性(即雙折射性)物質。而各向異性是許多晶體的基本物性,因此偏光顯微鏡是學、地質學和機械、冶金等部門用來研究結晶、礦物、巖石和金相組織的重要工具。生物體中也有各向異性的結構如骨骼、鱗片、牙齒等,所以它也為生物學所需。隨著社會科學技術的進步發展,偏光顯微鏡的應用范圍逐步擴大。 偏光顯微鏡可廣泛應用于地質、冶金、石油、半導體工業、化工、紡織、、制藥檢驗等行業以及各類院校相關教學、實驗室研究使用。 XP-K型偏光顯微鏡光學、機械性能優良,觀察舒適,操作使用方便,可在單偏光、正交偏光、錐光狀態下對均勻或非均勻、透明或非透明礦物以及相關試樣薄片進行觀測鑒定,也可通過配備各種顯微成像設備獲得如照片或者數碼圖像數據等形式的影像資料。儀器還配置有石膏(λ)插片、云母(λ/4)插片、石英楔子插片和移動尺等附件,可以幫助您獲得更加理想的觀察效果。 |
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