● 可根據(jù)用戶要求制作單面,雙面ICT測(cè)試治具.
● 采用進(jìn)口探針:INGUN、ECT、QA、ECT、CCP、日本電針等,任意選擇;
● 結(jié)構(gòu)材料采用進(jìn)口壓克力、電木板、玻纖板、布紋板、鐵板等;
● 結(jié)構(gòu)框架可選用鐵框:美觀、耐用、防靜電、可循環(huán)使用;
● 天板采用雙層結(jié)構(gòu)、四軸定位,保證壓棒下壓正確不易壓到零件;
● 采用縮孔技術(shù),提高探針精準(zhǔn)度;
● 可安裝HP Test Jet功能之感應(yīng)板及放大器,及測(cè)試JET ICT SCAN功能;
● 上下模植針,上下模定位采用進(jìn)口直線軸承定位,定位、耐用,上下模之間的轉(zhuǎn)接可采用探針或排線轉(zhuǎn)接;
● 電容極性測(cè)試大電容反插、開(kāi)關(guān)探針測(cè)試排插反向、有無(wú);





