| 品牌 | 杭光 | 型號 | PSZ-IV |
| 用途 | 通過改變FP標準具鏡間的氣壓,實現干涉光譜的掃描。 |
通過改變FP標準具鏡間的氣壓,實現干涉光譜的掃描。FP標準具高,平面度λ/100,高分辨率。可分別觀察FP標準具等傾干涉和等厚干涉。以等厚干涉作為標準具平行度和平面度的靈敏指示。從而更好地調整和發揮儀器功能。
技術參數:
平面度:λ/100
精細度:F≥35
自由光譜范圍(FSR):75GHz(可定制)
通光孔徑:Φ25mm
氣壓掃描范圍:1~3(atm)


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| 品牌 | 杭光 | 型號 | PSZ-IV |
| 用途 | 通過改變FP標準具鏡間的氣壓,實現干涉光譜的掃描。 |
通過改變FP標準具鏡間的氣壓,實現干涉光譜的掃描。FP標準具高,平面度λ/100,高分辨率。可分別觀察FP標準具等傾干涉和等厚干涉。以等厚干涉作為標準具平行度和平面度的靈敏指示。從而更好地調整和發揮儀器功能。
技術參數:
平面度:λ/100
精細度:F≥35
自由光譜范圍(FSR):75GHz(可定制)
通光孔徑:Φ25mm
氣壓掃描范圍:1~3(atm)

