OLPF安裝在陣列式光電成像器件(如CCD、CMOS)前面，以消除高于光電成像器采樣空間頻率的物

 光束成份對成像的干擾。由于CCD、CMOS光感應元件是采用非連續性取像方式，所以有拍攝細紋時

會產生不要的雜訊，光學低通濾波晶片即是提供消除此雜訊的功能。因細紋的方向不同需要用對

應角度的低通濾波晶片加以消除，又因不同的型號CCD、CMOS光感應元件在規格上有些差異，為針

對不同型號及同時兼顧不同方向的低通效果，所以需用各種不同切割角度（如45度、0度、90度）、

片數、厚度和IR CUT組合成低通濾波晶片設計，才能去除拍攝所帶來的雜訊。在使用CCD、CMOS光感

應元件拍攝彩色景物時，因CCD、CMOS對顏色的反應與人眼不同，所以須將光感應元件所能偵測的

而人眼無法偵測的部份除去，同時調整可見光范圍內對顏色的反應，使影像呈現的色彩合

人眼的感覺，所以在低通濾波晶片表面鍍上IR（AR）CUT（干涉式）或配玻璃（吸收式）使用。

技術指標

 材料：光學水晶

 角度：可根據OLPF設計要求制作

 尺寸：1/3、1/4等（外形可根據客戶要求制作）

 厚度：   單片（1.08、1.22、1.63）

           雙層（1.85、1.97、2.78）

           三層（2.58、3.03、3.43）

 鍍膜：AR、IR、夜視IR

  光譜透過率

　　日夜                    普通

 波長(n m)　　透過率(%)波長(n m)透過率(%)

 400--620Tavg≥93400--620Tavg≥93

 400--620Tmin≥88400--620Tmin≥88

 650&plun;10T = 50  650&plun;10T = 50

720　　　 T < 2720　　　　 T < 2

 740~1050Tavg< 1.5740~1050Tavg< 1.5

 1050-1100Tavg< 41050-1100Tavg< 4

 850&plun;10　  T > 90