高溫，堅(jiān)實(shí)惰性離子源促進(jìn)生產(chǎn)力

私有的惰性來(lái)源履行三個(gè)根本要求。 惰性使活躍，中立分子減到小損失從GC的。 高溫(350 ?C)支持高峰形狀甚而高沸騰化合物的和使從高沸騰矩陣的污穢減到小。 一個(gè)新穎的透鏡元素優(yōu)選地延伸到四極對(duì)調(diào)動(dòng)離子入RF/DC領(lǐng)域的中心的S/N的在產(chǎn)業(yè)。

黃金本位制四極的設(shè)計(jì)和表現(xiàn)

獨(dú)特的四極有未被超越的表現(xiàn)和可靠性。 不管操作溫度，這個(gè)真實(shí)的雙曲線石英結(jié)構(gòu)將給更低的領(lǐng)域錯(cuò)誤，更好的決議和雄偉許多軸穩(wěn)定。 實(shí)際上，整體石英的卓越的穩(wěn)定準(zhǔn)許分析儀溫度由?C保證分析儀潔凈在MSD的生活中的200決定。

三倍軸探測(cè)器

三倍軸取向安置HED-EM加倍off-axis從傳輸四極的軸。 這演變變動(dòng)允許離子匯集是化(增加的信號(hào))，并且在off-axis探測(cè)器之下將減少的中立噪聲設(shè)計(jì)。 探測(cè)器也介紹與增加的放大作用和長(zhǎng)壽的一個(gè)新的三倍渠道乘算器。 EM的Agilent的新的獲取正常化的優(yōu)化保證在離子計(jì)數(shù)、線性和EM之間的優(yōu)選的平衡估計(jì)壽命。 此外，獲取正常化意味在EM和一致的離子的老化的期間一致的敏感性計(jì)數(shù)在多個(gè)GC/MSD系統(tǒng)之間。

蹤影離子偵查和重疊合法軟件(DRS)的第二代提供痕量分析的真正的表現(xiàn)改善在復(fù)雜矩陣

追蹤離子偵查數(shù)位過(guò)濾從基礎(chǔ)線、峰頂和光譜的噪聲改進(jìn)偵查有或沒(méi)有DRS。 為coelution問(wèn)題在復(fù)雜的樣品發(fā)現(xiàn)了， NIST AMDIS的重疊合法力量是為痕量分析的后工具由GC/MS。 在重疊合法以后， “被清洗的”光譜提供更好的圖書館查尋結(jié)果，并且量化根據(jù)deconvoluted峰頂減少在MS目標(biāo)離子的錯(cuò)誤。 ChemStation充分地集成AMDIS結(jié)果QEdit，并且起作用，因此分析員能迅速比較標(biāo)準(zhǔn)和deconvoluted結(jié)果。 使用蹤影離子偵查和DRS，方法檢測(cè)極限(MDL)和極限測(cè)量(LOQ)是更低的。 假陽(yáng)性和錯(cuò)誤地否定為對(duì)數(shù)據(jù)的的信心減少。

高性能選擇的離子監(jiān)視(SIM)和充分的掃瞄

同步SIM/Scan功能奪取SIM數(shù)據(jù)和在同樣承購(gòu)的充分的掃瞄數(shù)據(jù)，沒(méi)有在分析表現(xiàn)的妥協(xié)。 SIM停留時(shí)間可以從100 msec到在1 msec增加的1 msec被設(shè)置。 AutoSIM改變信仰者自動(dòng)地掃描數(shù)據(jù)入SIM或SIM/scan承購(gòu)參量挽救方法的設(shè)定時(shí)間與許多峰頂。

改進(jìn)生產(chǎn)力，低成本并且增加分析力量的毛細(xì)流動(dòng)技術(shù)

與惰性，低大量，低死容量設(shè)備和無(wú)泄漏的第5個(gè)世代EPC，在烤箱連接創(chuàng)造了提高能力和表現(xiàn)的許多GC配置。 對(duì)于對(duì)與晚洗脫的矩陣峰頂?shù)膹?fù)雜樣品的GC/MS分析，反沖洗是一個(gè)根本工具。 更短的分析、較少來(lái)源清潔和更長(zhǎng)的專欄生活是所有實(shí)驗(yàn)室的可貴的好處。 血絲分離機(jī)和教務(wù)長(zhǎng)交換簡(jiǎn)化并且改進(jìn)補(bǔ)全偵查計(jì)劃的可靠性例如MSD-ECD和心臟切口方法。 ChemStation控制，這些作用可以一樣定期地使用象簡(jiǎn)單的GC/MSD方法。

GC/MS軟件幫助您做多數(shù)每奔跑和每個(gè)工作日

Agilent MSD生產(chǎn)力ChemStation軟件使容易甚而對(duì)非操作員利用Agilent 5975C GC/MSD的所有力量。 先進(jìn)的能力包括：

• 二個(gè)GC/MS系統(tǒng)控制從MSD ChemStation的
• 多才多藝的CTC PAL自動(dòng)取樣器的聯(lián)合控制可能促進(jìn)您的與自動(dòng)化的樣品準(zhǔn)備(可利用的選擇)的實(shí)驗(yàn)室的產(chǎn)品。
• eMethods功能允許您分享和高效率地分布橫跨多個(gè)實(shí)驗(yàn)室的方法或通過(guò)應(yīng)用方法節(jié)省研制時(shí)間從Agilent網(wǎng)站。
• 鎖的停留時(shí)間(RTL)不管操作員、探測(cè)器類型和專欄維護(hù)，給您橫跨系統(tǒng)的反復(fù)性的停留時(shí)間。 與Agilent或用戶建立的數(shù)據(jù)庫(kù)的組合，它將迅速讓您篩選未知的峰頂有增加的信心。
• 每次保證更加準(zhǔn)確的結(jié)果的自動(dòng)調(diào)整EI、PCI和NCI方式的。
• 要估計(jì)未校正的化合物的集中的SemiQuant能力
• 與企業(yè)內(nèi)容管理(ECM)的綜合化使容易在您的實(shí)驗(yàn)室存放，檢索和組織引起的所有電子數(shù)據(jù)-包括您的GC/MSD文件和。

維護(hù)和可靠性特點(diǎn)

模件分析儀匯編提供對(duì)細(xì)絲離子源的完全通入和更加快速的定期維護(hù)的電子乘法器。

前面玻璃窗提供簡(jiǎn)單的來(lái)源證明，并且重要連接一個(gè)完全看法。

高可靠性真空系統(tǒng)保證長(zhǎng)期表現(xiàn); 可利用的無(wú)油的泵裝置實(shí)際上消滅泵浦維護(hù)，減少噪聲，并且可以使用與腐蝕性氣體例如氨。

與新的三倍軸探測(cè)器的完全5975C聯(lián)盟包括：

• 經(jīng)濟(jì)的5975C VL MSD -，常規(guī)分析的小腳印系統(tǒng)
• 5975C惰性MSD -高性能，需求分析的全面貌特征的系統(tǒng)
• 5975C惰性XL MSD -高性能，為復(fù)雜EI分析優(yōu)選的全面貌特征的系統(tǒng)
• 5975C惰性XL EI/CI MSD -水平可利用GC/MS的表現(xiàn)和的生產(chǎn)力

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