600SMD離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器,采用非破壞式的測(cè)試方法,適合用于檢測(cè)印制線路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來(lái)測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約
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600SMD離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器,采用非破壞式的測(cè)試方法,適合用于檢測(cè)印制線路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來(lái)測(cè)試離子的含量。利用加熱測(cè)試液至大約