技術(shù)指標(biāo)：元素分析范圍：從K到U性可同時(shí)分析多層鍍層分析厚度檢測(cè)出限達(dá)0.05um同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型，先進(jìn)厚度分析方法多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.05um長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品）溫度適應(yīng)范圍：15℃~30℃輸出電壓220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）配置開(kāi)放式樣品腔二維移動(dòng)樣品平臺(tái)探測(cè)器和X光管上下移動(dòng)可實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)雙激光定位裝置準(zhǔn)直器自動(dòng)切換裝置玻璃屏蔽罩正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器信號(hào)檢測(cè)電子電路高低壓電源X光管計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)樣品腔尺寸：517mm×352mm×150mm外型尺寸：648mm×490mm×544mm以上是X射線熒光測(cè)厚儀的詳細(xì)信息，如果您對(duì)X射線熒光測(cè)厚儀的價(jià)格、廠家、型號(hào)、圖片有什么疑問(wèn)，請(qǐng)聯(lián)系我們獲取X射線熒光測(cè)厚儀的新信息。
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