技 術 參 數  1、 儀器尺寸：686(W)x464(D)x390 (H)mm        2、 樣品腔尺寸：小樣品腔：300*300*100mm；             大樣品腔：無限制，小于30公斤3、 重量：約50Kg4、 工作環境溫度：溫度15—30℃5、 工作環境相對濕度：≤85%（不結露）6、 可分析元素范圍 ：K-U7、 檢出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm 8、 測量時間 ：300-500s (系統自動調整)9、 分辨率：149±5eV10、 輸入電源：AC 220V±10%，50Hz11、 額定功率 ：1500W三、儀器硬件主體配置3.1探測系統1、探測器 類型：電制冷Si-PIN探測器(采用PIN結構的高性能電致冷半導體探測器)型號：X-123制造商：美國Amptek公司生產Be窗厚度：1mil(0.0254mm)分辨率：149±5eV系統峰背比：≥5000/1能量響應范圍：1keV~40keV推薦計數率：5000cps（DP4 Peaking Time=25.6us）2、信號處理系統DP4（與探測器高度集成）放大器增益自動調整；脈沖成型時間自動調整；MCA通道數可達8K；每一通道總計數可達24位（16.7M）   3.2 X光管圖  片電   壓: 0~50 kV電流: 1.0 mA功率: 50 W燈絲電壓: 2.0V @ 50 kV/1mA燈絲電流: 1.7 A射線取出角：12°靶   材：MoBe窗厚度：0.5mm以上是X光光譜儀的詳細信息，如果您對X光光譜儀的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯系我們獲取X光光譜儀的新信息。