表面細(xì)節(jié)豐富的高分辨率照片

Phenom(飛納) G2 Pro 為您提供高信噪比、表面細(xì)節(jié)豐富的優(yōu)質(zhì)圖像：

1. 左圖：5kV低加速電壓下，電子反應(yīng)區(qū)位于樣品表面，配合高亮度CeB6燈絲，既了分辨率，又得到樣品表面的信息；

2. 右圖：15kV高加速電壓下，電子穿透深度較深，表面細(xì)節(jié)不明顯

CeB6燈絲在樣品表面單位面積內(nèi)激發(fā)的信號(hào)約是鎢燈絲的10倍，適合于低加速電壓觀(guān)測(cè)

表面形貌和成分信息同時(shí)展現(xiàn)

成份模式
4分割背散射電子探測(cè)器扇區(qū)所得的信號(hào)相疊加

形貌模式
4分割背散射電子探測(cè)器扇區(qū)所得的信號(hào)相抵消

成份模式圖像包含樣品成份與形貌信息

樣品杯，30秒快速成像

直接觀(guān)看緣體，無(wú)需噴金

Phenom（飛納）采用低真空技術(shù)，出射電子與空氣分子碰撞產(chǎn)生正離子，正離子與樣品表面累積的電子中和，抑制荷電效應(yīng)的產(chǎn)生，直接觀(guān)測(cè)各種不導(dǎo)電樣品（如下圖所示）。

利用降低荷電效應(yīng)樣品杯，更可將開(kāi)始荷電的放大倍數(shù)8倍左右，而且不會(huì)影響燈絲壽命，下圖頭發(fā)示例：

操作簡(jiǎn)便，導(dǎo)航

?  自動(dòng)/手動(dòng)聚焦

光學(xué)導(dǎo)航，帶觀(guān)測(cè)樣品盡在視野之中，下準(zhǔn)確切換樣品，點(diǎn)擊感興趣樣品，即可自動(dòng)移動(dòng)到屏幕

低倍SEM照片導(dǎo)航，導(dǎo)航窗口中的彩色矩形框指示了住觀(guān)測(cè)窗口的觀(guān)測(cè)區(qū)域，點(diǎn)擊感興趣的區(qū)域，自動(dòng)移動(dòng)到樣品。

環(huán)境適應(yīng)性高，震

Phenom（飛納）可以放置在幾乎的室內(nèi)環(huán)境當(dāng)中，無(wú)需凈間。采用燈絲、探測(cè)器、樣品臺(tái)相對(duì)一體化的設(shè)計(jì)，震動(dòng)不會(huì)引起三者間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)，使Phenom成像不受震動(dòng)影響，可放置在較高樓層。

互聯(lián)網(wǎng)遠(yuǎn)程檢測(cè)

Phenom（飛納）擁有遠(yuǎn)程檢測(cè)功能，通過(guò)網(wǎng)絡(luò)，工程師可為您遠(yuǎn)程檢測(cè)系統(tǒng)、答疑解難，為您提供的保護(hù)，讓您的Phenom處于工作狀態(tài)。

豐富的拓展功能選件

適用于不同領(lǐng)域的樣品杯選件