View X高解析度X光無損探傷儀主要使用于BGA、CSP、flip chip、半導內部以及多層電路板的質量檢測，并能快捷清晰地檢測電路板的焊接情況，特別適用生產過程的質量檢測和返修后的質量檢測。<BR> View X為X光機系列中的一組或稱為手動型探傷儀，它包括一個基于Windows系統(tǒng)平臺的工作臺（View X -1000），并配有圖像多樣采集功能，能夠做到圖像同步采集與分析。View X光機完全體現(xiàn)了Scienscope設計中的集使用簡便、圖像清晰、價格合理的完美理念。1、可達130千伏，5微米聚焦的X光管能產生125倍的幾何放大率，再加上電腦放大可以達到1000倍的放大率。<BR>2、觀察范圍可從1.5毫米至50毫米。<BR>3、采用激光筆輔助樣品定位。<BR>4、X光管的Z軸可動控制（FOV和放大率控制）。<BR>5、X光管探測器的Z軸可動控制（FOV和放大率控制）。<BR>6、載物臺可作±60°傾斜。以上是View-XX-Ray高解析度無損探傷儀的詳細信息，如果您對View-XX-Ray高解析度無損探傷儀的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯(lián)系我們獲取View-XX-Ray高解析度無損探傷儀的新信息。
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