X射線膜厚儀是針對高要求用戶設計的,能夠測量精密的樣品,如:微形部件或線路板上微細的表面結構,它的新穎X-射線光學鏡片,的X-射線光學原理,使這部儀器能產生小,但高輻射強度的測量點,所以,測量數十微米的面積的結構也變成可能。X射線膜厚儀配備了半導體接收器適合測量薄到數NM的鍍層,還能測量出范圍從元素氯(Z=13)至鈾(Z =92)。X射線膜厚儀主要應用于線路板測試、細的鉛框一片片的掃描(指定面積),如:硬盤鍍層、細微的線。有高,可編程的XYZ測量臺及大移動范圍,測量室為長方形內槽設計,容許放入大面積的物件進行測量。









