XRF9能量色散X射線熒光分析儀n         XRF9能量色散X射線熒光分析儀器是基于X射線熒光分析法對樣品進行定性和定量分析、檢測構成元素類別和含量的儀器。n         XRF9可以無損分析塊狀固體、粉末、液體樣品，廣泛應用于質檢、電子、醫藥、食品、冶金、化工、地礦、考古等領域的研究開發和品質管理。（注）：X射線熒光（XRF）分析法是測定有初級X射線激發樣品時所產生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可以對試樣進行多元素快速分析。 產品特點n         先進的多光束可調系統n         具有高分辨率的探測器n         采用XYZ三維樣品臺n         大型樣品分析室n         CCD攝像及自動定位系統n         自動調節雙層六通道濾光系統n         完善的輻射安全防護n         強大功能的軟件操作系統n         短時間多元素同時分析n         無損分析和先進的薄樣分析技術相組合n         多種定量分析方法n         無需液氮和水循環冷卻n         種類齊全的選配標準樣品n         RoHS/WEEE指令快速分析 儀器配置n         外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3n         樣品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3n         主機質量：約45Kgn         工作環境溫度：0~40ºCn         工作環境相對濕度：≤80%n         元素分析范圍：AI-Un         含量分析范圍：1ppm~99.99%n         重復性：＜5%n         測量時間：一般60~300sn         測量對象：塊狀物體、粉末、液體n         激發功率：50Wn         探測器分辨率：149gevn         輸入電源：AC110V/220Vn         高壓電源：0~50kv/0~1mAn         X射線輻射劑量：≤1µSv/h代表性元素120s檢出限LOD(mg/kg) 性能指標

塑料基體	Cr	Br	Cd	Hg	Pb
LOD	8	2	4	4	5