| 全自動光學元件光譜分析儀 型號:Planum-3000 用途:用于各類平面光學元件的反射、透射光譜快速測量。可進行多角度相對/ 反射率、透過率測量,偏振光測量,膜性測量。 全自動光學元件光譜分析儀-適宜測量范圍:棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學性能。 |
| 類別 | I型 | II型 | III型 |
| 探測器 | Sony ILX511 x線形CCD 陣列 | Sony ILX511 x線形CCD 陣列 | Hamamatsu S7031背照式2D-CCD |
| 檢測范圍 | 380-1000nm | 380-1100nm | 360-1100nm |
| 波長分辨率 | <1.35nm | <1.35nm | <1.35nm |
| 信噪比(全信號) | 250:1 | 250:1 | 1000:1 |
| 相對檢測誤差 | <0.6%(400-800nm) | <0.6%(400-800nm) | <0.2%(400-800nm) |
| 操作方式 | 手動 | 電動 | 電動 |
| 角度分辨率 | 0.1º | <0.0002º | <0.0002º |
| 重復定位: | - | <0.005º | <0.005º |
| 旋轉速度: | - | 25º/s | 25º/s |
| 透射/反射測量角 | >8º,<80º,可擴展到5º | ||
| 單次測量時間 | <100ms | ||
| S/P光測量 | 可以 | ||
| 樣品尺寸 | >5mm | ||
| 操作系統/接口 | Windows XP Vista /USB2.0 | ||
| 產品尺寸 | 1020mm*485mm*300mm | ||
| 功率/電源: | 100W/220V-50HZ | ||
| 其他 | 可自定義打印報表格式,開放式光學材料光坯反射率數據庫 | ||







