Phoenix nanotom S
——適用于適用于材料科學、精密注塑成型、微觀力學、電氣、地質/生物學等應用領域
 
菲尼克斯nanotom是款180kV/15W納米焦點系統，廣泛適用于材料科學、精密注塑成型、微觀力學、電子地質學和生物學等應用領域。
由于系統配備了180kV/15W性能納米焦點X射線管、精密機械系統和的軟件模塊，使得nanotom成為廣泛3D 應用領域中杰出的檢測解決方案。一經掃描，全3D的信息為各種分析提供了可能。例如，非破壞性可視化切片、任意截面的觀察、自動空洞分析。當整個幾何物體掃描后，就能實現對復雜物體的3D測量甚至能夠在一小時內自動生成一份檢測。
 
應用
 
3D計算機層析技術（）
X射線3D 在工業中的傳統應用范圍無非是對金屬和塑料鑄件進行檢測和三維測量。然而，菲尼克斯的高分辨率X射線技術卻在傳感技術、電子、材料科學及其他自然科學中開辟了的應用領域。
 
傳感和電氣工程
對于傳感器和電子部件的檢測而言，高分辨率X射線技術通常被用于檢測、評估觸電、接頭、外殼、緣體和封裝狀況。還能在不破壞器件的前提下檢測半導體元件和電氣設備（焊點）。
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材料科學
高分辨率（微米或納米）不能用于檢測常規材料、 復合材料，陶瓷材料和燒結，還能分析地質樣本和生物樣本。在微米分辨率下就能對材料中成分的分布、孔洞和裂痕實現三維可視化。
測量技術
X射線3D測量技術能夠對復雜工件的內部實現非破壞性測量。相比于傳統的觸點坐標測量技術，掃描能夠同時獲取工件表面的點，包括隱藏的特征。如浮雕，采用其他的測量方式進行非破壞性測量是不可能實現的。Nanotom S配備的3D測量包提供了實現、可重復性、界面友好的三維測量所需的。從校正模塊到表面提取模塊。除了二維壁厚測量，的體數據能夠快速、簡便地與CAD數據進行對比。比如可以用來分析整個部件的尺寸是否合設計的尺寸。
 

塑料工程
在塑料工程中，高分辨率X射線技術通過檢測收縮腔、水泡、焊接線、裂縫以及缺陷分析來優化鑄件和噴漆工藝。X射線（微米或納米）能夠提供三維圖像以展示工件的特征，諸如晶體流動模式，填充物分布和低對比度缺陷。
nano展示的玻璃纖維增強塑料樣品：玻璃纖維的對齊與分布，礦物填充物（紫色）清晰可見。纖維寬度大約10um。
 
地質/生物科學
高分辨率（微米或納米）廣泛應用于地質樣品的檢測，例如探測新能源。高分辨率系統提供的三維圖像能夠展示別的巖石樣本、粘合劑、水泥、孔隙，以便更地判定當前樣品的特性，諸如在含油層中空洞的大小及位置。
 
產品規格
管電壓180kV
管功率15W
細節分辨能力200um
射線源到探測器小距離0.4mm
像素分辨率<500nm（依工件尺寸而定）
幾何放大倍率（3D）1.5倍-100倍
工件尺寸（高度×直徑）?150mm×120mm/5.9″×4.7″
工件重量?2kg/4.4lb
圖像鏈?5M全數字化圖像鏈
2D X射線成像不支持
3D 支持
的表面提取技術支持（可選）
CAD比較+三維測量支持（可選）
系統尺寸1640×1430×750mm3（64.6″×56.3″×29.5″）
系統重量1300kg/2866lb
射線護
?全封閉射線護室，合德國R?V和美國績效標準
CFR1020.4劑量率<1 uSv/h
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