TMS是一套全波長的0度角透過率檢測儀，能快速準確地測量各類平面光學元件的透射率，可用于實時在線檢測，實現產品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。
TMS透過率測試儀-技術參數
TMS透過率測試儀-獨特的軟件設計
TMS透過率測試儀-技術參數
| 型號 | TMS（I型） | TMS（II型） |
| 探測器 | Sony線形CCD 陣列 | Hamamatsu背照式2D-CCD |
| 檢測范圍 | 380-1000nm | 360-1100nm |
| 波長分辨率 | 1nm | 1nm |
| 信噪比（全信號） | 250：1 | 1000：1 |
| 相對檢測誤差 | ﹤0.5%（400-800nm） | ﹤0.2%（400-800nm） |
| 單次測量時間 | ﹤1s | |
| 樣品尺寸 | ≥ Φ3mm | |
| 操作系統/接口 | Windows XP, Windows Vista/ USB2.0 | |
| 電源/功率 | 220V-50HZ/6W | |
- 智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度，實時顯示測量樣品關注波長位置的透/反射率數據，自動調整顯示坐標范圍，高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。
- 譜圖管理:可同時記錄多達20個樣品譜圖，批量保存測量結果，記錄譜圖測試積分時間，能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作，程度地方便了譜圖的管理和分析。
- 自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案，同時設置判定標準，使檢測更快速，結果更準確。
- 譜圖數據處理功能:備有豐富的光學元件數據庫，可根據數據庫已存標準數據對比分析結果，用戶可自行對數據庫進行添加、修改和刪除，還可將測量數據導入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究。
- CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數， x，y，L,a,b,飽和度，主波長等。
- 數據打印功能:可快速批量打印樣品測量數據及譜圖，自定義測量出具單位名稱。
