儀器簡介：
技術參數：
主要特點：
北京德華上海公司提供相關型納米表面形貌、三維輪廓測量、粗糙度平面度等多款樣機演示、客戶做樣并根據樣品效果使具體配置達到性價比，歡迎咨詢溝通及技術交流；
相關簡介： https://oecsh.cn/oecsh/2010-04-11/d344.html
技術參數：
德國CFP 激光共聚焦顯微鏡
測量行程Z: 1000 µm
測量距離 : 4 mm 可測量拋光鏡頭
測量頻率 : max. 1000 Hz 敏感及軟質材料
分辨率 Z : 20 nm 適于反光不同的點
分辨率X Y: 1 µm 低反射率快速測量
測量角度 : approx. 90°± 25°*1
測量光源 : semiconductor laser,
660 nm, class 2*2
主要特點：
可測量拋光光學鏡頭
測量敏感及軟質材料
適于反光率不同的反光點
低反射率的材料也可快速測量
