- 品牌/商標：天星
- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：沈陽
ED400渦流測厚儀
ED400渦流測厚儀是ED300渦流測厚儀的改進型，儀器性能大幅度提高。儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查，可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點
ED400渦流測厚儀與ED300型相比，具有如下特點：
＊量程寬 ED400量程達到0～500μm。
＊高 ED400型的測量達到2%。
＊分辨率高 ED400型的分辨率達到0.1μm。
＊校正簡便 只校正“0”和“50μm”兩點，即可在全量程范圍內保證設計。
＊基體導電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提高 采用高集成度、高穩定性電子器件，電路結構優化，儀器可靠性提高。
＊穩定性提高 采用先進的溫度補償技術，測量值隨環境溫度的變化很小。儀器校正可在生產現場長期使用。
＊探頭線壽命長 采用德國進口的，在德國測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命可大大延長。
＊探頭芯壽命長 采用高強度磁芯材料，微調了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。
ED400渦流測厚儀技術參數
測量范圍： 0～500μm
測量： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分辨率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm(可選)
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260gED400渦流測厚儀配置與選配
| 標準配置主機 1臺 探頭 1支 基體 1塊(6063合金) 校正箔片 1片(約50μm，附檢測) 使用說明書 1份 合格證 1份 保修單 1份 手提式儀器箱1個 | 可選附件備用探頭 基體 校正箔片(約50μm，附檢測) |
