| 列：任感官自由飛揚(yáng) 帶方波技術(shù)的Z系列高端超聲波探傷儀集性能、快捷、、便攜于一身，精準(zhǔn)滿足各種苛刻需求。超越主流的性能與碩德產(chǎn)品特質(zhì)完美融合，從經(jīng)歷中錘煉技巧，有勇氣挑戰(zhàn)極限。靈敏的反饋、上乘的性能，數(shù)字內(nèi)涵模擬體驗(yàn)、沒有雜波干擾的舒暢感覺，它就像您的第六感官，隨您想法而動。Z系列超聲波探傷儀更像是一款披著便攜外衣的檢測工作站，必將帶領(lǐng)您進(jìn)入檢測的更高境界。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
衍射聲時技術(shù) | 獨(dú)有性能 衍射聲時技術(shù)(TOFD)，二維圖像顯示，可測量缺陷高度和深度 回波編碼技術(shù)可直觀的獲得缺陷在多次回波的位置 焊縫剖面示意 美國焊接學(xué)會標(biāo)準(zhǔn)AWS D1.1/D1.5 內(nèi)置常用焊接專用工藝標(biāo)準(zhǔn)：GB11345/JB4730 TOFD：可測缺陷高度和寬度 焊縫剖面示意 直觀分析 AWS：美國焊接學(xué)會標(biāo)準(zhǔn)AWS D1.1/D1.5 通用性能 方波激勵：適用難以穿透復(fù)合材料 國內(nèi)業(yè)界的可調(diào)方波激勵技術(shù)，適用于難以穿透的各種材料。可調(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能“方波/脈沖發(fā)生器”，實(shí)現(xiàn)與探頭的匹配。對于聲波衰減較厲害的復(fù)合材料，鑄件，厚板尤其有效，具有的穿透力和信噪比；而對檢測薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率。 窄帶濾波器組(Z) 在常規(guī)寬頻帶濾波基礎(chǔ)上增加了多個常用的窄帶濾波器，信號通過與探頭匹配的窄帶濾波器，可獲得的信噪比，從而極大的抑制了噪聲。（達(dá)到無雜波效果） 國內(nèi)率先達(dá)到10位高AD采樣 超長待機(jī)：10/20小時，擺脫充電煩惱 高亮真彩，強(qiáng)光可見，屏幕亮度5級可調(diào)，節(jié)電環(huán)保 工業(yè)級寬溫硬件操作，元器件，極低故障率 鎂鋁合金外殼，堅(jiān)固耐用，有效防止電磁干擾 功能 U盤存儲，即插即用 USB接口可插入U盤，無需驅(qū)動，支持熱插撥，即插即用。實(shí)現(xiàn)探傷存儲、拷屏打印。 二維編碼B掃描 直觀顯示缺陷位置 高端探傷儀常用的二維色彩編碼B掃描功能。B掃描功能圖像式的觀察缺陷模式，能夠產(chǎn)生很好的對比效果，更便于缺陷的分析判斷。通過:灰度/彩色調(diào)色板還可以自動顯示缺陷危害程度，也可實(shí)時對比觀測A掃波形和B掃圖像 超大容量數(shù)據(jù)儲存：3200個數(shù)據(jù)組 探傷與高精測厚一體 5條智能DAC曲線，符合JIS和API標(biāo)準(zhǔn) 實(shí)用DGS曲線:大平底、平底孔、通孔三種參考類型 操作 常用功能一鍵直達(dá) 菜單布局合理 自動校準(zhǔn)：聲速、探頭延遲、角度/K值 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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特征批示標(biāo)記 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
DAC曲線
回波編碼 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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