- 品牌/商標：艾克斯
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：深圳
AT-5000型X射線膜厚儀
AT-5000是新型的X射線鍍層測厚儀。它采用先進的半導體探測器，能精準測試任何復雜的鍍層結構，使用的定位系統，可以測試直徑很小的樣品。其強大的分析功能，足以在鍍層測厚領域大顯身手。
X射線鍍層測厚儀主要配置
半導體探測器
微聚焦X光管
高壓電源
濾光片4組
準直器5個 5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm、0.1mm可選
高清CCD
打印機1臺
計算機1臺
X射線鍍層測厚儀軟件
鍍層測厚分析軟件
元素含量分析軟件（可選）
X射線膜厚儀技術參數
可測鍍層類型：金屬鍍層（基材可為金屬或非金屬）
金屬基材上的無機鍍膜
測鍍層數：5層
鍍層種類：單金屬鍍層/合金鍍層/無機鍍膜
可測元素：硫（S）－鈾（U）
厚度測量范圍：輕金屬（如Ti、Cr等）0.05～20um
中金屬（如Ni、Cu、Ag等）0.01～30um
重金屬（如Pt、Au等）0.005～10um
測試： 可達納米級
厚度相對誤差：單層<5%，多層5~10%
小測量直徑：0.5mm
輸入電壓：AC220V/50HZ
功耗：150W（儀器主機）
樣品腔尺寸：550mm*450mm*180mm
儀器尺寸： 580mm*480mm*450mm
重量：56Kg
