軟件優越性:XRF8.0菜單式軟件,帶硬件參數調整和數據評估及計算系統;軟件除能顯示金屬百分比純度外,亦可顯示黃金K值;軟件可自動重復檢測,自動測算多次檢測的均值;計算的打印格式多樣化,完全滿足客戶各種形式的打印要求。
激發源:Mo靶的X光管 風冷 (無輻射)
探測器:Si-PIN 探測器(美國)
高壓裝置:美國進口高壓裝置
其它規格:
電壓:交流220V/50Hz
功率:144W
處尺寸:430mm*635mm*310mm
重量:21kg
技術指標:
分析范圍:0.001% ~ 99.999%
測量時間:自適應
測量:± 10ppm ~ 0.1%
分辨率 :149Kev ± 5
測試環境:常溫常態
分析元素:除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測試外,該型號還能對從Na至U的70多種元素進行分析,實為貴金屬行業常量分析中的實驗室級光譜儀。
X射線源:X射線光管
高壓器:0~50Kv
操作系統:Windows2000/Me/XP
鍍層測量:
鍍層厚度范圍<30μm
測量層數:5層
測量:0.03μm

