用途:
該X射線晶體分析儀,主要用于研究物質內部微觀結構。如:單晶定向、檢驗缺陷、物質定性、測定點陣參數、測定殘余應力等。
主要參數:
電 源:AC220V 50HZ 30A
功 率:2KW
靶 材:Cu(可選其他靶材)
管電壓:50KV(分檔可調)
管電流:50mA(分檔可調)
穩定度:&plun;1%
保 護:過功率、過電壓、過電流、無水
冷 卻:循環水、制冷水箱
護:鉛玻璃護罩
相 機:
a)德拜相機(粉沫相機)大、小兩種
b)勞厄相機(平板相機)
上述兩種相機,用戶可自選配置
尺 寸:長1000mm×寬780mm×高1050mm
(加護罩1800mm)
重 量:320公斤
水 泵:長800mm×寬500mm×高700mm
設備自驗收之日起,保修一年,保修期內在正常使用的情況下,因制造質量等原因出現故障,在接到通知后3天內趕赴現場及時修理。在過保修期一年后,設備如出現故障時,乙方負責修理,只收元器件費。









