詳細信息
儀器簡介：
在結構研究中, 大量的樣品需要在高放大倍數、更多細節(jié)的水平上進行觀察和分析。同時, 隨著樣品種類的不斷增多(如: 低原子序數材料, 不導電材料等), 需要掃描電子顯微鏡提供優(yōu)異的低加速電壓性能, 以獲得高質量的真實表面圖像。Inspect F50 場發(fā)射掃描電子顯微鏡系統(tǒng)就是根據這一要求而設計的。它還提供了低加速電壓的背散射電子圖像, 薄樣品的暗場/明場STEM(掃描)像。Inspect F50 系統(tǒng)操作和維護方便, 同時可安裝各種掃描電鏡的附件(如: 能譜儀系統(tǒng), 波譜儀系統(tǒng), EBSD等等)。Inspect F50 是一款經典的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。
技術參數：
1.燈絲: 亮度Schottky場發(fā)射燈絲
2.分辨率：1.0 nm @ 30 kV, 3.0 nm @ 1 kV
二次電子:
1.0 nm @ 30 kV, 3.0 nm @ 1 kV
減速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可選項)
背散射電子:
2.5nm @ 30kV
3.加速電壓：200 V - 30 kV, 連續(xù)可調
4.探測器：E-T二次電子探測器，可選背散射探測器
5. 50x50mm 4軸馬達驅動全對中樣品臺
主要特點：
1.分子泵 + 離子泵真空系統(tǒng)
2.高穩(wěn)定性、亮度場發(fā)射燈絲，滿足高分辨觀察和微觀分析的要求
3.可選FEI的STEM探測器，分辨率0.8nm
4.穩(wěn)定的大束流(200nA)、準確的能譜、波譜和EBSD分析
5.Windows XP操作系統(tǒng)
