TA MICRO-HITE plus M
可以用來進行平面,平行面,和圓柱面幾何體的內尺寸外尺寸,高度,深度和距離尺寸的測量.
同時可進行一維或二維的測量.
可以記錄空在兩個坐標方向的尺寸,并且可以以坐標或直角坐標方式輸出數據.
環塞規使用說明書
1、通規使用前：應經相關檢驗計量機構檢驗計量合格后，方可投入生產現場使用。
使用時：應注意被測螺紋公差等級及偏差代號與環規標識的公差等級、偏差代號相同（如M24*1.5-6h與M24*1.5-5g兩種環規外形相同,其螺紋公差帶不相同,錯用后將產生批量不合格品)。
檢驗測量過程：先要清理干凈被測螺紋油污及雜質，然后在環規與被測螺紋對正后，用大拇指與食指轉動環規，使其在自由狀態下旋合通過螺紋長度判定合格，否則以不通判定。
2、止規使用前：應經相關檢驗計量機構檢驗計量合格后，方可投入生產現場使用。
使用時：應注意被測螺紋公差等級及偏差代號與環規標識公差等級、偏差代號相同
檢驗測量過程：先要清理干凈被測螺紋油污及雜質，然后在環規與被測螺紋對正后，用大拇指與食指轉動環規，旋入螺紋長度在2個螺距之內為合格，否則判為不合格品。
3、維護與保養 量具（環規）使用完畢后，應及時清理干凈測量部位附著物，存放在規定的量具盒內。生產現場在用量具應擺放在工藝定置位置，輕拿輕放，以磕碰而損壞測量表面。嚴禁將量具作為切削工具強制旋入螺紋，避免造成早期磨損。可調節螺紋環規嚴禁非計量工作人員隨意調整，量具的準確性。環規長時間不用，應交計量管理部門妥善保管。
4、注意事項
在用量具應在每個工作日用校對塞規計量。 經校對塞規計量差或者計量器具周檢期的環規，由計量管理人員收回作相應的處理措施。 可調節螺紋環規經調整后，測量部位會產生失圓，此現象由計量人員經螺紋磨削加工后再次計量鑒定，各尺寸合格后方可投入使用。報廢環規應及時處理，不得流入生產現場。
