HCJDCS-C型 介電常數及介質損耗測試儀
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一、產品介紹
1、HCJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的試驗方法》(等效采用IEC 60250)設計和制造的,并合 7770等試驗方法。它適用于在高頻(1MHz)下緣材料的測試。
2、HCJDCS-C介電常數及介質損耗測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻測試儀器,測試頻率上限目前國內的160MHz。采用了多項技術:
1).雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
2).雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
3).雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。
4).自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
5).全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
6).DDS 數字直接合成的信號源 -信源的高葆真,頻率的高、幅度的高穩定。
7).計算機自動修正技術和測試回路優化 —使測試回路 殘余電感減至, Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
3、介電常數及介質損耗測試儀的設計,無疑為高頻元器件的阻測量提供了的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具,測量值更為,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質,無須關注量程和換算單位。
二、相關介紹:
1、介電常數又稱電容率或相對電容率,是表征電介質或緣材料電性能的一個重要數據,常用ε表示。 介質在外加電場時會產生感應電荷而削弱電場,原外加電場(真空中)與終介質中電場比值即為介電常數。其表示電介質在電場中貯存靜電能的相對能力,例如一個電容板中充入介電常數為ε的物質后可使其電容變大ε倍。介電常數愈小緣性愈好。如果有高介電常數的材料放在電場中,場的強度會在電介質內有可觀的下降。介電常數還用來表示介質的化程度,宏觀的介電常數的大小,反應了微觀的化現象的強弱。氣體電介質的化現象比較弱,各種氣體的相對介電常數都接近1,液體、固體的介電常數則各不相同,而且介電常數還與溫度、電源頻率有關。
2、物質介電常數具有復數形式,其實部即為介電常數,虛數部分常稱為耗散因數。
3、通常將耗散因數與介電常數之比稱作耗散角正切,其可表示材料與微波的耦合能力,耗散角正切值越大,材料與微波的耦合能力就越強。例如當電磁波穿過電解質時,波的速度被減小,波長也變短了。
4、適用范圍:
該儀器用于科研單學、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
三、技術參數:
1、Q 值測量范圍 2 ~ 1023 ,
2、量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔
3、固有誤差 ≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
4、工作誤差 ≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
5、電感測量范圍 4.5nH ~ 140mH
6、電容直接測量范圍 1 ~ 200pF
7、主電容調節范圍 18 ~ 220pF
8、主電容調節準確度 120pF 以下 ± 1.2pF ; 120pF 以上 ± 1 %
9、信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ~ 160MHz
10、頻率分段 ( 虛擬 ) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz
11、頻率指示誤差 3 × 10 -5 ± 1 個字 電感9只;
12、夾具一套
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