CHERSCOPE X-RAY XULM是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于測量細(xì)小部件上的鍍層厚度和成分分析。可測量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。
特點(diǎn):用途廣泛的鍍層厚度測量儀
通過組合可選的高壓和濾片，可以對較薄的鍍層（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和較厚的鍍層進(jìn)行同樣效果的測量.
配有的微聚焦管，可以測量100 μm大小的微小測量點(diǎn)
比例計數(shù)器可實(shí)現(xiàn)數(shù)千cps（每秒計數(shù)率）的高計數(shù)率
從下至上的射線方向，從而可以快速簡便的放置樣品。
底部C型開槽的大容量測量艙
典型應(yīng)用領(lǐng)域:測量線路板工業(yè)中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層
電子行業(yè)中接插件和觸點(diǎn)上的鍍層
裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS
電鍍鍍層，如大規(guī)模生產(chǎn)件（螺栓和螺母）上的腐蝕保護(hù)層Zn/Fe，ZnNi/Fe
珠寶和鐘表工業(yè)
測量電鍍液中金屬成分含量
XULM型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。本款儀器適合用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
