- 品牌/商標(biāo)：微納
- 企業(yè)類(lèi)型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：山東濟(jì)南
Winner99C靜態(tài)顆粒圖像儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
Winner99C靜態(tài)顆粒圖像儀使用改裝的顯微鏡系統(tǒng)配合高清攝像機(jī)，將顆粒形貌直觀的反映在電腦屏幕上，是顆粒分析理論與計(jì)算機(jī)圖像學(xué)的完美結(jié)合。本款儀器采用自主研發(fā)的軟件對(duì)顆粒大小、形狀、整體分布等屬性計(jì)算，并可將測(cè)試結(jié)果輸出為。
適用范圍：
Winner99C靜態(tài)顆粒圖像儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
技術(shù)參數(shù)：
規(guī)格型號(hào) | Winner99C | |
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | ISO13320，GB/T19077.1-2008，Q/JW001-2006 | |
顯微系統(tǒng) | 物鏡 | 4X、10X、40X、60X、100X（油）長(zhǎng)距消色差（平場(chǎng)）物鏡組 |
目鏡 | 1X、10X、16X 大視野攝像目鏡 | |
載物臺(tái) | 手動(dòng)三維機(jī)械式載物臺(tái)，尺寸：185mm×140mm，移動(dòng)范圍：50mm×75mm，粗微同軸調(diào)焦，微動(dòng)格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置 | |
光源 | 底部透射光源，6V 20W鹵素?zé)?/span>,亮度可調(diào)。可選頂部金相落射式光源（帶起偏振器） | |
總放大倍數(shù) | 4倍——1600倍 | |
攝像系統(tǒng) | 分辨率 | 2048×1536 |
像素尺寸 | 3.2μm×3.2μm | |
成像元件 | 1/1.8英寸 progress scan CMOS | |
幀率 | 6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480 | |
清晰度 | 900線 | |
信噪比 | 小于42dB | |
敏感度 | 1.0V@550nm/lux/S | |
輸出方式 | USB2.0 | |
實(shí)際觀測(cè)范圍 | 1-6000μm | |
軟件功能 | 靜態(tài)采集 | 將樣品形貌拍攝為高清晰JPG圖片 |
圖片處理 | 使用多種畫(huà)圖工具對(duì)圖片進(jìn)行比較簡(jiǎn)單的處理 | |
圖像拼接 | 將多幅圖片進(jìn)行無(wú)縫拼接,在顆粒測(cè)試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測(cè)試的代表性。同時(shí)也可單張分析保存后再進(jìn)行拼接，進(jìn)一步提高了結(jié)果的準(zhǔn)確性。 | |
顆粒的自動(dòng)處理工具集 | 自動(dòng)消除顆粒粘連、自動(dòng)消除雜點(diǎn)、自動(dòng)消除邊界不完整顆粒、自動(dòng)填補(bǔ)顆粒的空心區(qū)域、自動(dòng)平滑顆粒邊緣等12項(xiàng)自動(dòng)處理工具。 | |
比例尺標(biāo)定 | 通過(guò)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)微尺標(biāo)定后，每次測(cè)試只須選擇與物鏡相對(duì)應(yīng)的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實(shí)際大小數(shù)值。 | |
單個(gè)顆粒數(shù)據(jù) | 可在圖片上直接對(duì)單個(gè)顆粒進(jìn)行截面積、體積、長(zhǎng)徑比等10多項(xiàng)參數(shù)的分析 | |
任務(wù)管理機(jī)制 | 嚴(yán)格的任務(wù)管理機(jī)制，使用戶能夠?qū)⑺袦y(cè)試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來(lái)。 | |
輸出 | 將測(cè)試結(jié)果輸出為，并可以自由修改樣式。 | |
整體分布特征參數(shù) | D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù) | |
參數(shù) | 整體頻率分布累計(jì)分布 | 顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計(jì)分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。 |
統(tǒng)計(jì)平均徑 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計(jì)平均徑 | |
形狀參數(shù) | 長(zhǎng)徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項(xiàng)常用數(shù)據(jù) | |
個(gè)數(shù)統(tǒng)計(jì) | 直接得到所觀測(cè)的顆粒數(shù)量 | |
樣品縮略圖 | 可以將樣品彩色或黑白（可選擇）縮略圖顯示到中 | |
表頭輸入 | 可以將樣品名稱、測(cè)試單位、分散介質(zhì)等多項(xiàng)信息輸入到表頭中 | |
產(chǎn)品特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)：
強(qiáng)大的分析功能 | 通過(guò)新增加的自動(dòng)分析功能，以及更為簡(jiǎn)單強(qiáng)大的“均衡化”和“邊界檢測(cè)”等二值化方法，極大地提高了數(shù)據(jù)處理和分析能力。減少了用戶操作的復(fù)雜性，提高了儀器便宜性和分辨率。 |
測(cè)試結(jié)果直觀易懂 | 進(jìn)行顆粒檢測(cè)的同時(shí)還可觀測(cè)樣品的形貌，這能夠使用戶更全面的了解顆粒的形貌、狀態(tài)、變化過(guò)程等信息。并且，對(duì)照直觀的樣品圖片，可以幫助用戶更好的理解中的數(shù)據(jù)含義。 |
圖像拼接功能 | 將多幅圖片進(jìn)行無(wú)縫拼接,在顆粒測(cè)試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測(cè)試的代表性。同時(shí)也可單張分析保存后再進(jìn)行拼接，進(jìn)一步提高了結(jié)果的準(zhǔn)確性。 |
顆粒的自動(dòng)處理工具集 | 自動(dòng)消除顆粒粘連、自動(dòng)消除雜點(diǎn)、自動(dòng)消除邊界不完整顆粒、自動(dòng)填補(bǔ)顆粒的空心區(qū)域、自動(dòng)平滑顆粒邊緣等12項(xiàng)自動(dòng)處理工具。 |
附件表：
序號(hào) | 項(xiàng)目 | 數(shù)量 | 單位 | 備注 |
1 | 顯微鏡 | 1 | 臺(tái) | |
2 | 數(shù)碼攝像頭 | 1 | 個(gè) | |
3 | 微納顆粒圖像分析軟件 | 1 | 套 | |
5 | 電源線 | 1 | 根 | |
6 | 數(shù)據(jù)線 | 1 | 根 | |
7 | 載玻片 | 1 | 盒 | |
8 | 蓋玻片 | 1 | 盒 | |
9 | 物鏡測(cè)微尺 | 1 | 個(gè) | |
10 | 擦鏡紙 | 1 | 本 |
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