品牌:UNION HISOMET 系列 型號DHII 產地:日本 非接觸式深度測量工具顯微鏡 UNION顯微鏡 UNION測量顯微鏡
Z軸測量誤差：1微米 (40×) 讀數0.1微米
日本Union HISOMET DHII高非接觸深度測量顯微鏡
采用光學和非接觸方法探測焦距的方法，測量不會給樣品造成變形或劃痕等影響，這些往往是采用物理性接觸測量時產生的。基于目標分光方法原理的精密聚焦指示器的應用，以簡單地把兩個目標標志部分重合起來進行高的測量..
功能：
非接觸測量微細的撞擊、臺階等。
◎ 通過高的光學聚焦點檢測和的聚焦指示器完成高的測量
◎ 簡單的操作
◎ Z軸測量行程可從幾個μm 到25mm
◎ 同時還可以完成測量點的表面觀察
HISOMET系列工具顯微鏡為一X、Y、Z軸座標測量顯微鏡，X、Y工作臺行程由100*200mm到大行程500*500mm，放大倍數由5至1000×。為求工件在Z軸深度/高度測量時的，Z軸對焦采用一光學“裂像指示器”，結合精密的Z軸“Cross Roller Bearing”導軌，可測范圍25 mm，測量誤差1μm
技術規格
型號：DHII
工作臺行程：100*200mm/150*300mm/500*500mm
Z軸測量范圍：25mm/25mm/25mm
三軸分解度：0.001mm
標準目鏡：10X
標準物鏡：10X
物鏡:
5倍,10倍,20倍,50倍
選配: 100×
用戶:松下,SONY,U,NXP,JABILL,SCC,日月光,長電 等等 90%的半導體廠都是用這品牌
提供24小時的服務方案及客戶樣品的定制方案。
