產品品牌：

NANOVEA

產品型號：

S100

美國NANOVEA納米劃痕測試儀 飾 美國NANOVEA公司是一家公認的劃痕測試儀的革新者，生產的劃痕測試儀是目前國際上用在科學研究和工業領域先進的設備之一，該公司在光學設計、精密機械和科學軟件算法方面，擁有長期不斷發展的技術，由于這些專門技術的應用，NANOVEA為生產和質量控制的研究和發展提供精密準確的全方位解決方案。 納米劃痕儀主要用于界定涂層薄膜與基底的結合強度與薄膜的抗劃痕強度，主要應用在：

1. 半導體技術(鈍化層、鍍金屬、Bond Pads)；
2. 存儲材料(磁盤的保護層、磁盤基底上的磁性涂層、CD的保護層)；
3. 光學組件(接觸鏡頭、光纖、光學刮擦保護層)；
4. 金屬蒸鍍層；
5. 防磨損涂層(TiN, TiC, DLC, 切割工具)；
6. 藥理學(藥片、植入材料、生物組織)；
7. 工程學(油漆涂料、橡膠、觸摸屏、MEMS)；

主要特點有： 1. 完全符合ASTM D7187，D7027，D1624，C171，ISO 20502，ISO 1518 2.       光學顯微鏡自動觀察 3.       壓電陶瓷反饋控制 4.       加載載荷與劃痕深度的實時測量 5.       實時三維表面輪廓測量 可選件有：

1. 多種劃痕針頭
2. 微米、顯微模塊
3. 硬度測試模塊
4. 摩擦磨損測試模塊
5. 聲發射模塊
6. AFM模塊
7. 三維顯微模塊