常州新區大平超聲波探傷設備有限公司
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標準磁探試片 D1型
本品用于磁粉探傷時對幾何形狀復雜，不同材質的工件檢驗時，可以正確地選擇磁化規范，并可檢驗探傷設備、磁粉或磁懸液的性能，在磁粉探傷操作中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作需要的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量，是磁粉探傷必備的調試工具。
標準磁探試片 D1型 符合JB/T4730.4-2005標準
D1型試片用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉和磁懸液的綜合性能（系統靈敏度），及磁化方向、有效磁化范圍和大致的有效磁場強度以及考察所采用的探傷工藝規程。
規格：15/50、7/50、30/50三種規格，適用于有曲率的探傷面，6片/套
尺寸：10×10mm,厚度50υm
