- 產品品牌：
- VEW
非接觸光學測量技術-基于雙目視覺和條紋投影的三維面形測量技術
目前, 該系統已應用于飛機機翼, 機身的三維形狀檢測和質量控制等領域。
雙目視覺是一種被動光學三維傳感技術。 雙目立體照相機將雙目視覺原理和條紋投影技術相結合, 成為主動光學三維傳感系統, 用于對任何材質的漫反射表面進行高的三維坐標測量。
系統主要由一個LCD投影單元和兩個高分辨率的CCD照相機組成。測量時投影儀將一組計算機產生的條紋模式
投影到物體表面, 兩個照相機分別從不同方向觀察因受物體形狀調制而變形的條紋圖像。提取條紋的位相信息后,
系統自動建立起兩個照相機像素間的對應關系 (即在兩個CCD上找出對應同一物體點的像素對), 再利用兩個相機
之間的幾何關系, 算出物體三維坐標。
得益于VEW公司新開發的照相機校準技術, 系統采用了一系列有助于大范圍, 高測量的設計。CCD照相機使用短焦距的物鏡鏡頭, 可對大張角的范圍進行測量。兩個照相機的光軸也被設計成大夾角, 使整個測量系統獲得了極高的坐標分辨率。同時, 該系統還具有極大的靈活性, 用戶可以隨意更換和調整投影單元, 以適應不同的被測物體表面特性 (如顏色, 反射率等), 而不用對投影儀進行光學校準。
針對不同的測量對象和目的, 用戶還可自行對兩個CCD相機的幾何位置 (如距離, 夾角)進行調整, 以獲得用戶需要的測量范圍和坐標分辨率。
系統采用了精密的幾何校準技術,合適的物體表面, 其三維坐標測量可達0.05毫米。進行精密幾何校準。
得益于VEW公司新開發的光學成像設備校準技術, 3D照相機采用短焦距的物鏡鏡頭, 可對張角超過90度的范圍進行測量。同時為了盡量減少光學系統的遮擋效應, 投影和成像系統采用了近平行光軸設計。由于投影單元的高亮度, 在橫向達2 米的范圍內仍然有足夠的照明度。系統的縱向測量范圍為近離照相機20厘米到遠4米的距離。在離照相機100厘米的工作距離上, 系統的坐標分辨率可達0.1毫米。
目前, 該系統已應用于飛機機翼, 機身的三維形狀檢測和質量控制等領域。
