X射線熒光光譜儀，采用手動或自動方式，測量和分析印刷線路板、護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的部件上的鍍層。

簡介
CHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀。它是從大眾的CHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的部件及印刷線路板。
比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高測量。由于采用了cher基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行分析和測量。可測量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。
XDL型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
XDL 系列儀器適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
?測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
?測量薄鍍層，例如裝飾鉻
?測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
?全自動測量，如測量印刷線路板
?分析電鍍?nèi)芤?br />

設(shè)計理念
CHERSCOPE X-RAY XDL設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據(jù)樣品平臺的運行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z軸系統(tǒng)來設(shè)定不同型號的儀器以滿足實際應(yīng)用的需求。
XDL210：平面樣品平臺，固定的Z軸系統(tǒng)
XDL220：平面樣品平臺，馬達(dá)驅(qū)動的Z軸系統(tǒng)
XDL230：手動操作的X-Y樣品平臺，馬達(dá)驅(qū)動的Z軸系統(tǒng)
XDL240：馬達(dá)驅(qū)動的X-Y樣品平臺，當(dāng)測量門打開時，工作臺會自動移到放置樣品的位置；馬達(dá)驅(qū)動的Z軸系統(tǒng)，可編程運行，可用兩種速度運行。
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。配有手動或者馬達(dá)驅(qū)動X-Y樣品平臺的儀器還配備了激光點，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。
測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設(shè)計，可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如大型的線路板。
的操作，測量數(shù)據(jù)的計算，以及測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示都是通過強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。
XDL型光譜儀是而保護的測量儀器，型式許可合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)規(guī)定。

通用規(guī)范
用途:能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。
元素范圍:從氯（17）到鈾（92），如使用選配的WinFTM® BASIC，可多同時測量24種元素
設(shè)計理念:臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向:由上往下