*顯微測定微小領域的反射率 物鏡對焦于被測物微小區域(φ60μm); *CIE顏色測定 X Y色度圖,x,y,L,a,b飽和度,主波長等; *檢測速度快 探測器,可在1秒內時間重現性高的測定; *消除背面反射光 無需進行背面反射處理即可快速準確地測定表面反射率
| 型號 | BCSP(II型) | BCSP(III型) |
| 檢測范圍 | 380~880nm | 380~1100nm |
| 波長分辨率 | 1nm | 1nm |
| 相對檢測誤差 | ﹤1% | ﹤1% |
| 測定方法 | 與標準物比較測定 | |
| 被測物再現性 | ±0.1%以下(2σ) (380nm~410nm) ±0.05%以下(2σ) (410nm~800nm) | ±0.1%以下(2σ) (380nm~410nm) ±0.05%以下(2σ) (410nm~1000nm) |
| 單次測量時間 | ﹤1s | |
| 0.3nm | ||
| 被測物N.A. | 0.12(使用10×對物鏡時) 0.24(使用20×對物鏡時) | |
| 被測物尺寸 | 直徑>1mm厚度>1mm(使用10×對物鏡時)厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時) | |
| 被測物測定范圍 | 約φ60μm(使用10×對物鏡時) 約φ30μm(使用20×對物鏡時) | |
| 設備重量 | 約30kg(光源外置) | |
| 設備尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | |
| 使用環境 | 水平且無振動的場所溫度:23±5℃ 濕度:60%以下、無結露 | |
| 操作系統 | Windows XP, Windows Vista,Win7 | |
| 軟件 | 分光反射率、物體顏色、單層膜厚(有干涉條紋)和鍍膜(有干涉條紋)折射率測定 | |




