HP8169A偏振控制器HP 8169A HP8169A
描述
與內置線偏振器相比，HP 8169A提供化合成。對四分之一波片和半波片逐一進行調整，以決
定性方式創建化可能的狀態。偏振器生成消光比高的化線性狀態。8169A內部預定算
法使傳輸路徑從波英卡里球上的某種化狀態沿著正交大圓到達另一種待指定狀態。
應用：
化合成
在整個波英卡里球上自動完成化調整（決定性方式）
單波段偏振相關損耗測量 w/ 是德 8163A/64A/66A 或 8509C （偏振相關損耗 < 1.0 dB 時，
典型測量時間為 2-10 秒）
掃描波段偏振相關損耗測量（w/ 是德 8153A 和 8168XX）
從屬化的 EDFA 增益測量
EDFA 表征化位
光耦合系數（功率變化量/ SOP）的化靈敏度測量
測試設備主要化狀態相關化射束校正（w/ HP 8153A）
對化模式色散測量的光發布條件化調整
采用快速偏振掃描來模擬消偏振信號 [1]
[1] 這款化控制器適合此應用；不過也可使用其它 HP 化控制器。
描述
與內置線偏振器相比，HP 8169A提供化合成。對四分之一波片和半波片逐一進行調整，以決
定性方式創建化可能的狀態。偏振器生成消光比高的化線性狀態。8169A內部預定算
法使傳輸路徑從波英卡里球上的某種化狀態沿著正交大圓到達另一種待指定狀態。
應用：
化合成
在整個波英卡里球上自動完成化調整（決定性方式）
單波段偏振相關損耗測量 w/ 是德 8163A/64A/66A 或 8509C （偏振相關損耗 < 1.0 dB 時，
典型測量時間為 2-10 秒）
掃描波段偏振相關損耗測量（w/ 是德 8153A 和 8168XX）
從屬化的 EDFA 增益測量
EDFA 表征化位
光耦合系數（功率變化量/ SOP）的化靈敏度測量
測試設備主要化狀態相關化射束校正（w/ HP 8153A）
對化模式色散測量的光發布條件化調整
采用快速偏振掃描來模擬消偏振信號 [1]
[1] 這款化控制器適合此應用；不過也可使用其它 HP 化控制器。
