顆粒度分析儀（油品分析儀，清潔度分析儀）
顆粒度分析的飛躍——的分析(Particle Analyzer Axio Imager. M1m and Particle Analyzer v12)
隨著產(chǎn)品的不斷小型化及包裝質(zhì)量要求的，其技術(shù)要求也更加嚴(yán)格——尤其是引起部件功能損耗及產(chǎn)品質(zhì)量下降的灰塵顆粒，需要得到精密的探測。許多工業(yè)部門——從藥品制造到自動供應(yīng)商都已經(jīng)認(rèn)識到，他們需要適當(dāng)?shù)臅娌牧蟻碜C明其部件及清洗液的純凈度。常見的方法即為圓形濾波器顆粒分析——油品及過濾后，殘留物將進(jìn)行量化評級。直到現(xiàn)在，一些簡單標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用還受到顆粒分析系統(tǒng)的限制，許多指導(dǎo)方法，如ISO16232，需要進(jìn)行過濾才能實(shí)現(xiàn)。鑒于該種復(fù)雜分析所需要的分辨率及存儲量，評估只能在直徑50mm的很小范圍內(nèi)進(jìn)行，而其復(fù)雜的操作及有限的靈也造成了其他局限。常規(guī)的工業(yè)應(yīng)用需要一個能夠適應(yīng)現(xiàn)在的解決方案——分辨率高、通用、簡單、并能在范圍內(nèi)應(yīng)用；能在多領(lǐng)域應(yīng)用的高度靈并能輕松應(yīng)對未來的需要。Carl Zeiss顆粒度分析儀了當(dāng)代顆粒分析的局限，將工業(yè)顆粒檢測到了一個新的高度。
應(yīng)用： 過濾膜殘留物測定 用圓形過濾器進(jìn)行顆粒分析是進(jìn)行質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)過程。按照生產(chǎn)流程，將隨機(jī)抽取的部件樣本用量的液體進(jìn)行清洗，然后壓/吸過過濾膜，任何的灰塵顆粒將被濾出，然后在顯微鏡下進(jìn)行觀察。這一過程也在風(fēng)能電站得到應(yīng)用，例如：檢測服務(wù)間隔，在這里，使用到了潤滑劑。在領(lǐng)域的應(yīng)用中，mm級的大顆粒的重要意義，它們只能通過圖像拼接來獲取。顆粒度分析儀次使其成為可能，完整的獲取整個圓形濾波器的圖像，不需要進(jìn)行多次測量即可執(zhí)行相關(guān)評估，結(jié)果即為定義尺寸范圍的分析。 油品污染度（清潔度）分析 即：檢測油中污染雜質(zhì)顆粒的尺寸、數(shù)量及分布，檢測潤滑油中的污染顆粒的數(shù)量和污染等級。對于精密的液壓系統(tǒng)，固體顆粒污染將加劇控制元件的磨損；對于透平系統(tǒng)，固體顆粒污染將加劇軸承等部件的磨損。 鐵譜磨損分析 檢測用油中磨損顆粒的形狀、成分、大小和數(shù)量。對磨損顆粒形狀的分析, 判斷設(shè)備的異常磨損類型；對磨損顆粒大小和數(shù)的分析，判斷設(shè)備的異常磨損程度；對磨損顆粒成分的分析, 判斷設(shè)備的異常磨損部位。
塑膠孔隙度 碳化硅（SIC）是一種常在化學(xué)及電子工業(yè)（半導(dǎo)體技術(shù)）、航空航天、工具制造、機(jī)械工程及自動化工業(yè)（發(fā)動機(jī)構(gòu)成）領(lǐng)域應(yīng)用的材料。由于SIC是一種及其堅(jiān)固的材料，它可以作為暴露在1400°C以上（消除機(jī)械及腐蝕壓力）物體的理想組件。由于SIC的粒子比例及尺寸決定其機(jī)械品質(zhì)及終產(chǎn)品的表面特征，對這些特性進(jìn)行分析在工業(yè)上具有其重要的意義。新Carl Zeiss顆粒度分析儀的高度靈活使其成為應(yīng)用領(lǐng)域強(qiáng)有力的分析工具。
壓鑄部件缺陷 材料的力學(xué)性能常常受到制造相關(guān)工藝——鑄造的負(fù)面影響（增加了內(nèi)部的集中應(yīng)力），如氣孔、氣洞和空洞，尤其帶有鎂或鋁鑄造材料時，收縮氣孔及天然氣空洞不可避免，從技術(shù)的角度看更是如此，但是，它們可以通過對生產(chǎn)及冷卻過程進(jìn)行修正來調(diào)整。今天，工業(yè)領(lǐng)域尤其重視對斷裂（尤其在材料表面）的自動探測，斷裂尺寸也是如此。主要焦點(diǎn)都集中在：在大缺陷上將造成單個圖像測量時的分析不足，顆粒度分析儀在圖像拼接上的功能使其能夠在該領(lǐng)域獲得結(jié)果。
藥膏結(jié)晶 藥膏，如皮膚及粘膜的劑制備，是根據(jù)其物質(zhì)的分布來探測的，表現(xiàn)為結(jié)晶形式。樣本或來自開發(fā)的新產(chǎn)品，或來自完成的藥膏軟管，其品質(zhì)已在生產(chǎn)過程中探測完成。在光顯微鏡下，藥膏涂抹在切片上，在偏光觀察方式下進(jìn)行觀察（10x及20x物鏡），物質(zhì)結(jié)晶能夠作為暗色結(jié)構(gòu)清晰可見并利用圖像分析進(jìn)行評估。為了驗(yàn)證該系統(tǒng)，一個常規(guī)面積（100平方微米面積圓）應(yīng)每月測量并將測量結(jié)果同相關(guān)值進(jìn)行比對，顆粒度分析儀次使其成為可能，大的晶體聚合物及小的顆粒均能一步探測測量，并將其顆粒分布同標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程下的分布進(jìn)行比對。
