機械密封件平面光帶檢測儀 用途： |
| 平面平晶規格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm φ150mm以上屬非標立品需訂做 |
| 平面平晶產品特點 *平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來 測量被測量面的平面度。 *平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定 高的平面件，例如，平面光學件、平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶適用于 計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。 |
技術參數:
平面直徑d(mm) | 基本參數 | |||
1級 | 2級 | |||
d范圍內 | 2/3d范圍內 | d范圍內 | 2/3d范圍內 | |
30 45 60 | 0.03 | ———— | 0.1 | 0.05 |
80 100 150 | 0.05 | 0.03 | ||
200 250 300 | 0.08 1 0.15 | 0.05 0.05 0.09 | 0.12 0.15 0.2 | 0.06 0.08 0.1 |
主要技術數據
l 輸入電源：220V 50Hz。
l 輸出功率：20W
l 檢測儀型號：KT-VII 100
l 平面平晶規格：平面平晶，￠ 100mm
l 外形尺寸（長×寬×高） 單位：mm
l 工作環境溫度：0-40攝氏度，相對溫度<80攝氏度，大氣壓力86-106kpa。
