1.ED40型渦流測厚儀是ED30型測厚儀的改進型,儀器性能顯著。
2. ED40型渦流測厚儀適于測量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁件表面的陽氧化膜或涂層厚度,測量其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。
3. ED40型渦流測厚儀適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、的膜厚檢查, 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
4. ED40型渦流測厚儀合標準GB/T4957-203 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
5. 天星ED40型渦流測厚儀自1993年開始生產以來,伴隨著我國鋁加工行業的成長,其自身也在不斷改進和,目前,已生產了ED20型、ED30型和ED40型三代產品, ED40型渦流測厚儀是新一代產品,其產品質量和測試國外儀器水平,其耐用性突出,過國內外儀器。天星測厚儀以良好的質量,及時、優質、低費用的售后服務得到用戶的廣泛贊譽和,天星測厚儀在鋁型材行業的過90%,成為該行業的產品。
儀器特點:
ED40型渦流測厚儀與ED30型相比,具有如下特點:
*量程寬 ED40型渦流測厚儀量程0~50μm。
*高 測量2%。
*分辨率高 分辨率0.1μm。
*校正簡便 只校正“0”和“50μm”兩點,即可在全量程范圍內設計。
*基體導電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時,測量誤差不大于1~2μm。
*性 采用高集成度、高穩定性電子器件,電路結構優化,儀器性。
*穩定性 采用的溫度補償技術,測量值隨環境溫度的變化很小。儀器校正可在生產現場長期使用。
*探頭芯壽命長 采用度磁芯材料,微調了探頭設計,探頭芯壽命可大大延長。
*探頭可互換 外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。
技術參數:測量范圍: 0~50μm
測量: 0~50μm:±1μm;
50~50μm:±2%
分 辨 率: 0~50μm:0.1μm;
50~50μm:1μm;
0~50μm:1μm(可選)
使用溫度: 5~45℃
外形尺寸: 150m×80m×30m
重 量: 280g
標準配置
主機
探頭
基體(6063鋁合金)
校正箔片 一套4片(附檢測)
儀器箱 可選附件
備用探頭
基體
校正箔片(附檢測)








