UX-700 鍍層厚度檢測儀 華唯  

  配置型號
探測器
X光管
高壓電源

Ux-700 M
AMPTEK Si-PIN X-123()
上海科頤維（國產）
咸陽威思曼(國產)

Ux-700 H
AMPTEK Si-PIN X-123()
上海科頤維（國產）
spellman()

Ux-700 S
AMPTEK SDD X-123()
上海科頤維（國產）
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產品介紹：

   本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量，Ux-700更小樣品測試腔的設計，帶有聚焦光點的準直器，高分辨率的探測系統，眾多條件的選擇，測試結果的準確性。

   X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，了大批量生產電鍍產品的檢驗條件，、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業中品質的有了檢驗的保障。

   Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺，可以通過鼠標的點擊操作，選擇樣品的多點測試，適應于細小結構多種不同鍍層材料的測試。

   Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數的攝像設備，測試樣品的部位清楚明了，同時攝像設備拍抓測試部位的圖片，和測試數據結果一同出現在測試中。

   Ux-700鍍層測厚儀采用了華唯新技術FlexFp -Multi，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。

 

產品指標：

測厚技術：X射線熒光測厚技術

測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層

測量下限：0.003um

測量上限：30-50um（以材料元素判定）

測量層數：10層

測量用時：30-120秒

探測器類型：Si-PIN電制冷    

探測器分辨率：149eV

高壓范圍：5-50Kv，50W

X光管參數：5-50Kv，50W，側窗類；

光管靶材：Mo靶；

濾光片：鍍層濾光片

CCD觀察：260萬像素

微移動范圍：XY15mm

輸入電壓：AC220V，50/60Hz

測試環境：非真空條件

數據通訊：U2.0模式

準直器：？0.5mm

軟件方法：FlexFP-Mult

工作區：開放工作區 自定義

樣品腔：70*20mm

整機重量：38kg

 

鍍層測厚方法：

1.磁性涂層測厚法

   使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的非導磁金屬和非導電層的厚度，如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等，涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。

2.渦流層層測厚法

   可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度，如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度

3.X射線熒光法

   金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試，同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。

 

常用單位：

微米（um），微英寸（u‘’）俗語“邁”，密耳（mil）

1um=39.4邁， 1um=0.04mil

其他說明

配置型號	探測器	X光管	高壓電源
Ux-700 M	AMPTEK Si-PIN X-123()	上海科頤維（國產）	咸陽威思曼(國產)
Ux-700 H	AMPTEK Si-PIN X-123()	上海科頤維（國產）	spellman()
Ux-700 S	AMPTEK SDD X-123()	上海科頤維（國產）	spellman(