Phoenix　nanotom　M
　　
　　——適用于材料科學、傳感/電氣工程、測量技術、地質(zhì)/生物等領域。
　　的菲尼克斯nanotom　M是一款適合于科學和工業(yè)領域的納米焦點系統(tǒng)，3D測量技術廣泛適用于各種樣品采用設計的180kV/15W高功率納米焦點X射線管，配備了內(nèi)置水冷系統(tǒng)和溫度穩(wěn)定型數(shù)字探測器。該系統(tǒng)具備的空間分辨率和對比度分辨率能適用于廣泛的樣品和應用領域：小到小型的生物、地質(zhì)樣本；中到中型的工業(yè)模塊，例如塑料射嘴或注塑模型；再到金屬嵌件。全自動執(zhí)行掃描、重建和過程分析了它的易用性、快捷性以及結果的性。一經(jīng)掃描，全3D的信息為各種分析提供了可能。例如，非破壞性可視化切片、任意截面的觀察、自動空洞分析。當整個幾何物體掃描后，就能實現(xiàn)對復雜物體的3D測量甚至能夠在一小時內(nèi)自動生成一份檢測。
　　
　　
　　主要特征
　　
　　的成像質(zhì)量得益于采用了的溫度穩(wěn)定型DXR數(shù)字平板探測器，能夠?qū)崿F(xiàn)﹥10，000：1的高動態(tài)范圍檢測的高功率、長壽命、開放式納米焦點X射線管，細節(jié)分辨率為200nm，工作穩(wěn)定3D測量應用捆綁的模塊包括：溫度自穩(wěn)定型屏室高度的花崗巖
　　
　　基座線性測量系統(tǒng)
　　振的操作臺
　　鉆石窗口
　　標定物
　　datos｜x　2.0包（點-測功能、3D測量功能）
　　客戶優(yōu)勢
　　的空間分辨率和對比度分辨率適用于廣泛的樣品和應用領域，從小型的生物樣本到中型的塑料樣品，覆蓋了三個數(shù)量級（樣本尺寸：0.25mm到250mm，重量3kg/6.6lb）優(yōu)化配置的3D測量軟件包能提供穩(wěn)定的、可再現(xiàn)的環(huán)境和數(shù)據(jù)采集條件，在幾分鐘內(nèi)就能完成快速重建和測量結果再現(xiàn)系統(tǒng)采用了菲尼克斯datos｜x　2.0軟件使操作變得更簡便金剛石窗口能提供更高功率的焦點，相同圖像質(zhì)量的前提下數(shù)據(jù)采集效率了整整一倍（可選）
　　應用領域
　　3D　
　X射線3D　在工業(yè)中的傳統(tǒng)應用范圍無非是對金屬和塑料鑄件進行檢測和三維測量。然而，菲尼克斯的高分辨率X射線技術卻在傳感技術、電子、材料科學及其他自然科學中開辟了的應用領域。nano　采用了尺寸為0805（2.0mm　X　1.2mm）的貼片電感。3D圖像能夠清楚顯示　the　end　cap　里面的線圈。在任何傳統(tǒng)的X片中，層與層之間是相互重疊的，但是nano卻能將物體一層一層地展示出來。材料科學高分辨率（微米或納米）不能用于檢測常規(guī)材料、復合材料，陶瓷材料和燒結，還能分析地質(zhì)樣本和生物樣本。在微米分辨率下就能對材料中成分的分布、空洞和裂痕實現(xiàn)三維可視化。
　　納米在玻璃材料復合纖維中的應用也是可視的。
　　傳感和電氣工程
　　對于傳感器和電子部件的檢測而言，高分辨率X射線技術通常被用于檢測、評估觸電、接頭、外殼、緣體和封裝狀況。還能在不破壞器件的前提下檢測半導體元件和電氣設備（焊點）。不同的共晶焊料面也是可視的。
　測量技術X射線3D測量技術能夠?qū)碗s工件的內(nèi)部實現(xiàn)非破壞性測量。相比于傳統(tǒng)的觸點坐標測量技術，掃描能夠同時獲取工件表面的點，包括隱藏的特征。如浮雕，采用其他的測量方式進行非破壞性測量是不可能實現(xiàn)的。V｜tome｜x配備的的3D測量包提供了實現(xiàn)、可重復性、界面友好的三維測量所需的。從校正模塊到表面提取模塊。除了二維壁厚測量，的體數(shù)據(jù)能夠快速、簡便地與CAD數(shù)據(jù)進行對比。比如可以用來分析整個部件的尺寸是否合設計的尺寸。
　　用CAD進行方差分析和測量汽缸頭的三個特征參數(shù)。
　　塑料工程
　　在塑料工程中，高分辨率X射線技術通過檢測收縮腔、水泡、焊接線、裂縫以及缺陷分析來優(yōu)化鑄件和噴漆工藝。X射線（微米或納米）能夠提供三維圖像以展示工件的特征，諸如晶體流動模式，填充物分布和低對比度缺陷nano展示的玻璃纖維增強塑料樣品：玻璃纖維的對齊與分布，礦物填充物（紫色）清晰可見。纖維寬度大約10um
　　地質(zhì)/生物科學
　　高分辨率（微米或納米）廣泛應用于地質(zhì)樣品的檢測，例如探測新能源。高分辨率系統(tǒng)提供的三維圖像能夠展示別的巖石樣本、粘合劑、水泥、孔隙，以便更地判定當前樣品的特性，諸如在含油層中空洞的大小及位置。