采用面陣列模式研發的高亮度光源,透過其被測物投射到光源上,從而能清晰地提取出外形輪廓特征。
二、應用領域:
1、各類電子元器件;
2、IC的外型檢測;
3、透明物體表面或者內部劃痕檢測等;
4、產品的外形輪廓識別及尺寸測量。
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