特點：
* 可垂直上下移動
* 恒定負載的彈簧探針
* 恒定的探針間距
* 可保持的重復性測試
* 探頭方便更換
* 探針臺頂部可調(diào)整Z軸移動
* 穩(wěn)固的連接線在探針臺后面
* 轉(zhuǎn)接頭可選擇：Banana／BNC／Triaxial Female
* 卡盤可快速移動
* 可以配合加熱吸盤使用
* 卡盤尺寸可以選擇：6英寸、8英寸、12英寸
* 氣動的SR-4可用開關(guān)控制升降
應用：
* 表面電阻率測試
* 薄膜切片電阻率測試
* 半導體摻雜特性的測試
* 金屬層厚度的測試
* 測試半導體類型：P型／N型
* 電壓／電流的測試
詳細說明：
* 卡盤尺寸可選擇：6英寸、8英寸、12英寸；材料；特氟龍
* 探針升降長度：10毫米
* 探針臺Z軸升降為：1微米
* 探針材質(zhì)：碳化鎢、鈹銅合金
* 探針距離：40mil、50mil、62.5mil
* 彈簧探針力度：45grams、85grams、180grams
* 探針直徑：40.6微米
規(guī)格：
* 尺寸：220mm長x420mm寬x250mm高
* 重量：20Kg
* 可垂直上下移動
* 恒定負載的彈簧探針
* 恒定的探針間距
* 可保持的重復性測試
* 探頭方便更換
* 探針臺頂部可調(diào)整Z軸移動
* 穩(wěn)固的連接線在探針臺后面
* 轉(zhuǎn)接頭可選擇：Banana／BNC／Triaxial Female
* 卡盤可快速移動
* 可以配合加熱吸盤使用
* 卡盤尺寸可以選擇：6英寸、8英寸、12英寸
* 氣動的SR-4可用開關(guān)控制升降
應用：
* 表面電阻率測試
* 薄膜切片電阻率測試
* 半導體摻雜特性的測試
* 金屬層厚度的測試
* 測試半導體類型：P型／N型
* 電壓／電流的測試
詳細說明：
* 卡盤尺寸可選擇：6英寸、8英寸、12英寸；材料；特氟龍
* 探針升降長度：10毫米
* 探針臺Z軸升降為：1微米
* 探針材質(zhì)：碳化鎢、鈹銅合金
* 探針距離：40mil、50mil、62.5mil
* 彈簧探針力度：45grams、85grams、180grams
* 探針直徑：40.6微米
規(guī)格：
* 尺寸：220mm長x420mm寬x250mm高
* 重量：20Kg
