主要性能特點:
-模塊化設計,型號多樣,可根據實驗要求靈活配置并升級。
-子系統及附件豐富,便于構建具有不同側重點的實驗系統。常用的子系統有:低溫冷卻系統、偏振控制系
統、波長延展系統和顯微光譜測量等功能模塊,提供UV-VIS-NIR全波段熒光光譜、熒光壽命在變溫、
偏振等實驗可控狀態下的精準測量功能。
-在穩態光譜的測量中,通過使用靈敏的單光子計數(Single Photon Counting)技術,提供的微弱
信號檢出能力。
-在瞬態光譜/熒光壽命測量中,采用目前幾種瞬態記錄技術中的時間相關單光子計數(TCSPC-Time
Correlated Single Photon Counting)技術,直接在時間域內獲取原始數據,限度地測量。
-利用TCSPC技術的另一個大優勢在于可以同時測量得出多組分樣品中各個組分的熒光壽命。
其他說明
| UV-VIS激發譜和發射譜 | NIR激發譜和發射譜 |
| 3D激發和發射譜 | 同步掃描譜 |
| 各向異性光譜 (偏振光譜) | 溫度掃描激發譜和發射譜 |
| 熒光壽命/瞬態光譜 | 磷光壽命/瞬態光譜 |
| 多組分熒光/磷光壽命 | 時間分辨激發光譜 |
| 各向異性熒光壽命 | 時間分辨發射光譜 |
| 溫度掃描熒光/磷光壽命 |







