實驗內容及相關科目：
l 光纖的切割與端面的處理。
l 激光與光纖的耦合及耦合效率的測量。
l 半導體激光器的閾值電流和增益斜率。
l 觀察光纖的模式及偏振態、光纖彎曲對模式的影響
（擾模）。
l 光纖中的測定和光纖材料的平均折射率的估算。
l 模擬信號（音頻）的調制、發射、光纖傳輸、接收放
大和解調（光纖通訊原理）。
l 光纖數值孔徑的測量。
l 振動信號的拾取。
儀器特點：
l 用可調制的可見光半導體激光器作為光源，現象清晰、直觀；波長為650nm 輸出功率≥10mW ，功率穩定度：≤±1%；調制頻率范圍為10K—200KHz；激光功率指示計采用3位半數字表頭，量程分別為200μW、2mW、20mW、200mW和可調檔；光纖長度200m。
l 采用多自由度的調整機構，耦合光纖，培養動手能力。
設備成套性：
光學實驗導軌、光纖實驗儀、半導體激光器、光纖耦合器、光纖座、光纖、偏振片、激光功率指示計、光纖刀、剝皮鉗、音頻信號源、一維位移架+十二檔光探頭（選購）、示波器（自備）等。
產品指標
光學實驗導軌800mm ，
激光器650nm、 10mW，
光纖纖芯直徑9.2um，長200m，，
二維可調光電二級管探頭調制范圍：X、Y方向各±2.5mm，激光功率指示計（普通探頭）三位半數字表頭，量程：200μW, 2mW, 20mW, 200mW，可調檔，小分辨率0.1u W。
選購件： 大一維位移架+12檔光探頭（用于數值孔徑的測量）位移范圍100mm，0.02mm，光欄直徑：0.5、1、2、3、4、6mm。光欄寬度：0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm
