詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
X 光鍍層測厚儀是一款快速無損的鍍層測厚儀器，主要對鍍金層、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅等金屬鍍層厚度測試，產品廣泛應用于五金工具、電子線路印刷板、開關、 鋁鍍鋅企業等，江蘇天瑞儀器股份有限公司生產的THICK8000X光鍍層測厚儀（國產廠家）是在THICK600、THICK800A的基礎上做了進一 步的升級，三維移動平臺，高清攝像系統，使整個測試過程更加清晰，測試結果更加準確，對微小點和微距離點的測試更加精準。
技術指標】
分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層（鍍鎳、鍍金、鍍銀、鍍錫等）
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低至135eV
國產x光鍍層測厚儀采用先進的微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
國產x光鍍層測厚儀準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
穩定性：可達0.1%
Ф0.3mm四種準直器組合
操作環境濕度：≤90%
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位 ：小于0.1um
操作環境溫度 15℃～30℃
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
【國產x光鍍層測厚儀測試實例】
在保證計數率的情況下能有效分辨相近元素，大大提高測試穩定性、降低檢測限。
國產x光鍍層測厚儀Thick 8000x光鍍層測厚儀檢測譜圖
某國外x光鍍層測厚儀儀器檢測譜圖
測量結果（Au-Cu)的穩定性數據對比如下：
次數 | Thick8000x光鍍層測厚儀 | 行業內其他儀器 |
1 | 0.042 | 0.0481 |
2 | 0.043 | 0.0459 |
3 | 0.043 | 0.0461 |
4 | 0.0412 | 0.0432 |
5 | 0.0429 | 0.0458 |
6 | 0.0436 | 0.0458 |
7 | 0.0427 | 0.0483 |
8 | 0.0425 | 0.045 |
9 | 0.0416 | 0.0455 |
10 | 0.0432 | 0.0485 |
11 | 0.0422 | 0.043 |
平均值 | 0.0425 | 0.0459 |
標準偏差 | 0.0007 | 0.0019 |
相對標準偏差 | 1.70% | 4.03% |
極差 | 0.0024 | 0.0055 |
