安柏來(lái)科學(xué)儀器（上海）有限公司
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黃凱先生(聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)說(shuō)明是在維庫(kù)儀器儀表網(wǎng)看到的，謝謝)
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新的光纖耦合TranSpec Micro薄膜厚度顯微鏡可以將薄膜厚度測(cè)量點(diǎn)的大小降到50-100um。測(cè)量點(diǎn)的圖像可通過(guò)裝在顯微鏡上的彩色相機(jī)實(shí)時(shí)查看。
TranSpec Micro薄膜厚度測(cè)量?jī)x和我們TranSpec和TranSpec Lite儀器一樣采用白光干涉原理。為了測(cè)量小的點(diǎn)，TranSpec Micro使用裝有實(shí)時(shí)顯示相機(jī)的光纖耦合顯微鏡。光纖耦合纖維鏡可以將薄膜厚度測(cè)量點(diǎn)的大小降到50-100um（根據(jù)放大倍數(shù)的不同），測(cè)量點(diǎn)的圖像可通過(guò)裝在顯微鏡上的彩色相機(jī)實(shí)時(shí)查看。
