詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號天瑞產業園
- X\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\/Y\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
- SDD探測器：分辨率低至135eV
- 樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
- 同時檢測元素：最多24個元素，多達五層鍍層
- 檢出限：可達2ppm，最薄可測試0.005μm
- 鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
- SDD探測器：分辨率低至135eV
- 準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準直器組合
產品介紹
X熒光射線膜厚分析儀（thick8000）是一款金屬鍍層測厚儀器，主要用于五金類，端子，連接器，衛浴，電子元器件，高壓開關，半導體支架等產品鍍層厚度測試，主要測試鍍鎳、鍍金、鍍銀、鍍銅、鍍銠、鍍鈀、鍍鎢、鍍鋅層等電鍍層厚度，多可以測五層，滿足客戶多鍍層的檢測。
性能優勢
1.精密的三維移動平臺
2.卓越的樣品觀測系統
3.先進的圖像識別
4.X熒光射線膜厚分析儀輕松實現深槽樣品的檢測
5.四種微孔聚焦準直器，自動切換
6.雙重保護措施，實現無縫防撞
7.采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動自檢、復位；
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣；
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦；
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點；
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示結果。
技術指標
分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）
同時檢測元素：多24個元素，多達5層鍍層
X熒光射線膜厚分析儀
鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）
SDD探測器：分辨率低至135eV
X熒光射線膜厚分析儀先進的微孔準直技術：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
X熒光射線膜厚分析儀樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位：小于0.1um
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度：15℃～30℃
廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業，注冊資本23088萬。旗下擁有北京邦鑫偉業技術開發有限公司和深圳市天瑞儀器有限公司兩家全資子公司。總部位于風景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。
天瑞儀器將以“行業技術”的姿態，不斷探究世界分析領域的。為客戶提供更加先進的產品和更加滿意的服務，同時為電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫藥等眾多行業提供更為完善的行業整體解決方案，從而推動中國經濟快速化。
